Characteristics of diode temperature sensors which exhibit Mott conduction in low temperature region
Heavily doped silicon diodes of n⁺⁺-p⁺ type which exhibit the Mott
 temperature dependence of the forward current in a certain range of bias voltages and
 low temperatures have studied from the point of their use as temperature sensors. In the
 region of hopping conduction, t...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2007 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2007
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118120 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Characteristics of diode temperature sensors which exhibit Mott conduction in low temperature region / V.L. Borblik, Yu.M. Shwarts, M.M. Shwarts // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2007. — Т. 10, № 3. — С. 44-47. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineБудьте першим, хто залишить коментар!