Сверхпроводимость границ раздела полупроводниковых слоев в двухслойных и многослойных гетероструктурах типа АIVBVI
Проведено комплексное исследование и сравнение сверхпроводящих свойств двухслойных и многослойных полупроводниковых эпитаксиальных гетероструктур типа АIVВVI, проявляющих сверхпроводимость при критических температурах Тс≤6,5 К. Сверхпроводимость этих систем связана с инверсией зон в узкощелевых п...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2008
|
| Schriftenreihe: | Физика низких температур |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118198 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Сверхпроводимость границ раздела полупроводниковых слоев в двухслойных и многослойных гетероструктурах типа АIVBVI / О.И. Юзефович, М.Ю. Михайлов, C.В. Бенгус, А.Ю. Аладышкин, Е.Е. Пестов, Ю.Н. Ноздрин, А.Ю. Сипатов, Е.И. Бухштаб, Н.Я. Фогель // Физика низких температур. — 2008. — Т. 34, № 12. — С. 1249-1258. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Проведено комплексное исследование и сравнение сверхпроводящих свойств двухслойных и многослойных
полупроводниковых эпитаксиальных гетероструктур типа АIVВVI, проявляющих сверхпроводимость
при критических температурах Тс≤6,5 К. Сверхпроводимость этих систем связана с
инверсией зон в узкощелевых полупроводниках, обусловленной неоднородными напряжениями, создаваемыми
сеткой дислокаций несоответствия, возникающей на границах раздела при эпитаксиальном
росте. Обнаружено, что Тс и характер сверхпроводящего перехода двухслойных гетероструктур
PbTe/PbS зависят от толщины полупроводниковых слоев d и напрямую связаны с качеством сеток дислокаций
несоответствия на интерфейсах (количеством и типом структурных дефектов в сетках). Найдены
существенные отличия в поведении двухслойных сэндвичей и сверхрешеток. Минимальная толщина
d, при которой появляется сверхпроводимость, для двухслойных систем в несколько раз больше,
чем для многослойных. Верхние критические магнитные поля Hc₂ двухслойных систем более анизотропны.
В области температур, близких к Тс, для сверхрешеток наблюдается 3D-поведение, а ее понижение
приводит к кроссоверу 3D–2D. Для двухслойных структур 2D-поведение начинается непосредственно
от Тс и обнаруживается кроссовер типа 2D–1D с резкой расходимостью Hc₂, характерной
для сверхпроводящих сеток. |
|---|