Зображення обкладинки

Current transport mechanisms in metal – high-k dielectric – silicon structures

The mechanism of current transport in several high k -dielectric, including rare earth metal oxides (Gd₂O₃, Nd₂O₃), ternary compounds (LaLuO₃) and rare earth metal silicate (LaSiOx) thin films on silicon was studied using current-voltage ( I - V ) and conductance-frequenc...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2012
Автор:	Gomeniuk, Y.V.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118283
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Current transport mechanisms in metal – high-k dielectric – silicon structures / Y.V. Gomeniuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2012. — Т. 15, № 2. — С. 139-146. — Бібліогр.: 35 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Current transport mechanisms in metal - high-k dielectric - silicon structures
за авторством: Y. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012)

Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements
за авторством: Yu. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012)

Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements
за авторством: Gomeniuk, Yu.V.
Опубліковано: (2012)

Novel hysteresis effect in ultrathin epitaxial Gd₂O₃ high-k dielectric
за авторством: Nazarov, A.N., та інші
Опубліковано: (2008)

Effect of the charge state of traps on the transport current in the SiC/Si heterostructure
за авторством: Lysenko, V.S., та інші
Опубліковано: (2000)

Influence of the electroneutrality of a metal layer on the plasmon spectrum in dielectric–metal–dielectric structures
за авторством: P. P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)

Peculiarities of current transport in titanium oxide-silicon heterostructures
за авторством: Yu. S. Milovanov, та інші
Опубліковано: (2012)

Peculiarities of current transport in titanium oxide-silicon heterostructures
за авторством: Yu. S. Milovanov, та інші
Опубліковано: (2012)

Surface plasmon polaritons in dielectric/metal/dielectric structures: metal layer thickness influence
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)

Dual model describing effects of evaporated metal gate on low-k dielectric methylsilsesquioxane in metal oxide semiconductor capacitor structure
за авторством: Aw, K.C., та інші
Опубліковано: (2003)

Photoconductivity relaxation and electron transport in macroporous silicon structures
за авторством: L. A. Karachevtseva, та інші
Опубліковано: (2017)

Photoconductivity relaxation and electron transport in macroporous silicon structures
за авторством: Karachevtseva, L.A., та інші
Опубліковано: (2017)

Size Dependence of Mechanical Stresses in the Metal Condensates on Silicon
за авторством: B. P. Koman, та інші
Опубліковано: (2014)

An Antenna Based on a Hybrid Metal–Dielectric Structure
за авторством: D. V. Maiboroda, та інші
Опубліковано: (2021)

Investigation of the effect of potential barriers on mechanisms current transfer in meetings of two-barrier silicon structures
за авторством: O. A. Abdulkhaev, та інші
Опубліковано: (2011)

AN ANTENNA BASED ON A HYBRID METAL–DIELECTRIC STRUCTURE
за авторством: Mayboroda, D. V., та інші
Опубліковано: (2021)

Quantum phonon transport in 3D metal–dielectric point polycontacts with strong lattice distortions
за авторством: Feher, A., та інші
Опубліковано: (2007)

The mechanism of current transport in the structure Al-p-CdTe-Mo with different thickness of the base
за авторством: Mirsagatov, Sh.A., та інші
Опубліковано: (2015)

Electromagnetic Waves of a Planar Layered Metal-Dielectric Structure
за авторством: Vidil, M. J., та інші
Опубліковано: (2012)

Mechanical strain in the structure of array of silicon nanowires grown on a silicon substrate
за авторством: A. I. Klimovskaya, та інші
Опубліковано: (2019)

Mechanical strain in the structure of an array of silicon nanowires grown on a silicon substrate
за авторством: Klimovskaya, A.I., та інші
Опубліковано: (2019)

Nonlinear analysis of mm waves excitation by high–current REВ in dielectric resonator
за авторством: Galaydych, K.V., та інші
Опубліковано: (2012)

Transport and acceleration of the high-current ion beam in magneto-isolated gap
за авторством: Karas, V.I., та інші
Опубліковано: (2015)

Passivation of silicon surface by ultrathin dielectric film in M/Si/nematic/ITO structures
за авторством: Gritsenko, M.I., та інші
Опубліковано: (2004)

Current transport through ohmic contacts to indiume nitride with high defect density
за авторством: Sai, P.O., та інші
Опубліковано: (2018)

High Current Pulse Transducer for Metal-Oxide Surge Arresters
за авторством: Gurevich, V.
Опубліковано: (2007)

Features of planar metal/dielectric nanowaveguides
за авторством: V. M. Fitio, та інші
Опубліковано: (2020)

Features of planar metal/dielectric nanowaveguides
за авторством: Fitio, V.M., та інші
Опубліковано: (2020)

Reverse current-voltage characteristics and carrier transport mechanisms in InAs photodi-odes
за авторством: A. V. Sukach, та інші
Опубліковано: (2011)

Methods and mechanisms of gettering of silicon structures in the production of integrated circuits
за авторством: V. A. Pilipenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Voids’ layer structures in silicon irradiated with high doses of high-energy helium ions
за авторством: Starchyk, M.I., та інші
Опубліковано: (2015)

Photoelectric properties of metal-porous silicon-silicon planar heterostructures
за авторством: Brodovoi, A.V., та інші
Опубліковано: (2002)

Dispersion properties of surface waves at planar structures ‘metal – dielectric – magnetized plasma’
за авторством: Akimov, Yu.A., та інші
Опубліковано: (2002)

Slow and fast lights in metal/dielectric composite of cylindrical nanoinclusions in passive and active linear dielectric host matrices
за авторством: Y. A. Abbo
Опубліковано: (2021)

Slow and fast lights in metal/dielectric composite of cylindrical nanoinclusions in passive and active linear dielectric host matrices
за авторством: Y. A. Abbo
Опубліковано: (2021)

Fractographic features of hydrogen transport mechanisms in structural steels
за авторством: H. V. Krechkovska
Опубліковано: (2015)

Characterization of MOS structure using low-k dielectric methylsilsesquioxane with evaporated and sputtered aluminium gate
за авторством: Aw, K.C., та інші
Опубліковано: (2002)

Structure and luminescence study of nanoporous silicon layers with high internal surface
за авторством: Makara, V.A., та інші
Опубліковано: (2003)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: Yampolskiy, A.L., та інші
Опубліковано: (2018)