Properties of junction diodes under conditions of bisotropic strains
In consideration of influence of technological strains on characteristics of
 junction diodes located on surface of silicon wafers, biaxial character of such strains has
 taken into account. The cases of (001)- and (111)-oriented silicon wafers on whose
 surface the diodes ar...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2009 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118608 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Properties of junction diodes under conditions
 of bisotropic strains / V.L. Borblik // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2009. — Т. 12, № 1. — С. 42-46. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. |