Reliability of AC thick-film electroluminescent lamps
The reliability of AC thick-film EL devices has been studied. The AC thickfilm
 EL devices were fabricated by Novatech Inc. using the industrial print screen
 technology. The analysis of reasons for failure has been proposed. The dependence of EL
 lamp parameters on physical...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2009 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118690 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Reliability of AC thick-film electroluminescent lamps / V. Vlaskin, S. Vlaskina, L. Berezhinsky, G. Svyechnikov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2009. — Т. 12, № 2. — С. 173-177. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. |