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Reliability of AC thick-film electroluminescent lamps

The reliability of AC thick-film EL devices has been studied. The AC thickfilm
 EL devices were fabricated by Novatech Inc. using the industrial print screen
 technology. The analysis of reasons for failure has been proposed. The dependence of EL
 lamp parameters on physical...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:2009
Hauptverfasser: Vlaskin, V., Vlaskina, S., Berezhinsky, L., Svechnikov, G.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118690
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Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Reliability of AC thick-film electroluminescent lamps / V. Vlaskin, S. Vlaskina, L. Berezhinsky, G. Svyechnikov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2009. — Т. 12, № 2. — С. 173-177. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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