X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals

The paper presents the X-ray photoelectron spectra (XPS) of the valence band (VB) and of the core levels (CL) of uniaxial ferroelectric Sn₂P₂S₆ single crystals from different crystallographic planes in both paraelectric and ferroelectric phases. The XPS were measured with monochromatized Al Kα rad...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Condensed Matter Physics
Datum:2008
Hauptverfasser: Grigas, J., Talik, E., Lazauskas, V., Vysochanskii, Yu.M., Yevych, R., Adamiec, M., Nelkinas, V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Інститут фізики конденсованих систем НАН України 2008
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119343
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals / J. Grigas, E. Talik, V. Lazauskas, Yu.M. Vysochanskii, R. Yevych, M. Adamiec, V. Nelkinas // Condensed Matter Physics. — 2008. — Т. 11, № 3(55). — С. 473-482. — Бібліогр.: 7 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:The paper presents the X-ray photoelectron spectra (XPS) of the valence band (VB) and of the core levels (CL) of uniaxial ferroelectric Sn₂P₂S₆ single crystals from different crystallographic planes in both paraelectric and ferroelectric phases. The XPS were measured with monochromatized Al Kα radiation in the energy range 0 1400 eV. The VB consists of five bands with the maxima between 3.3 eV and 14.5 eV below the Fermi level. Experimental energies of the VB and core levels are compared with the results of theoretical ab initio calculations of the molecular model of the Sn₂P₂S₆ crystal. The electronic structure of the VB is revealed. Ferroelectric phase transition changes the atom's charge and strength of the bonds, electronic structure of VB, width of CL lines and chemical shifts for the Sn, P and S states which are crystallographic plane-dependent. У статтi представлено рентгенiвськi фотоелектроннi спектри (РФЕС) валентної зони (ВЗ) та остов них рiвнiв (ОР) одновiсних сегнетоелектричних кристалiв Sn₂P₂S₆, отриманi з рiзних кристалографiчних площин i в параелектричнiй, i в сегнетоелектричнiй фазах. РФЕС вимiряно з використанням монохроматизованого Al Kα випромiнювання в енергетичному дiапазонi 0–1400 еВ. ВЗ мiстить п’ять пiдзон з максимумом мiж 3.3 еВ i 14.5 еВ нижче рiвня Фермi. Експериментальнi значення енергiй рiвнiв ВЗ та ОР порiвняно з результатами теоретичних розрахункiв з перших принципiв для молекулярної моделi кристалу Sn₂P₂S₆. Визначено електронну структуру ВЗ. Перехiд у сегнетоелектричну фазу змiнює атомнi заряди та мiцнiсть зв’язкiв, електронну структуру ВЗ, ширину лiнiй ОР та хiмiчнi зсуви для станiв Sn, P i S, що є залежними вiд кристалографiчних площин.
ISSN:1607-324X