X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
The paper presents the X-ray photoelectron spectra (XPS) of the valence band (VB) and of the core levels (CL) of uniaxial ferroelectric Sn₂P₂S₆ single crystals from different crystallographic planes in both paraelectric and ferroelectric phases. The XPS were measured with monochromatized Al Kα rad...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Condensed Matter Physics |
|---|---|
| Дата: | 2008 |
| Автори: | Grigas, J., Talik, E., Lazauskas, V., Vysochanskii, Yu.M., Yevych, R., Adamiec, M., Nelkinas, V. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики конденсованих систем НАН України
2008
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119343 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals / J. Grigas, E. Talik, V. Lazauskas, Yu.M. Vysochanskii, R. Yevych, M. Adamiec, V. Nelkinas // Condensed Matter Physics. — 2008. — Т. 11, № 3(55). — С. 473-482. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface
за авторством: M. I. Terebinskaja, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: M. I. Terebinskaja, та інші
Опубліковано: (2016)
The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)
Lattice dynamics and phase transitions in Sn₂P₂S(Se)₆ ferroelectric crystals
за авторством: Yevych, R.M., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Yevych, R.M., та інші
Опубліковано: (2006)
Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)
X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005)
The second order phase transition in Sn₂P₂S₆ crystals: anharmonic oscillator model
за авторством: Yevych, R.M., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Yevych, R.M., та інші
Опубліковано: (2008)
Investigation of the optical coatings on the dkdp single ctystals by x-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Loya, V.Yu., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Loya, V.Yu., та інші
Опубліковано: (2004)
TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
X-ray photoelectron spectroscopy of nanopowders of ZrO₂-Y₂O₃-Cr₂O₃ compounds
за авторством: Korduban, A.M., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Korduban, A.M., та інші
Опубліковано: (2007)
Investigation of structure surface of the sorbent-catalyst modified by MnO2 X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)
Study of Mn2-хCoxP2O7·5H2O, at x=0, using X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
X-ray emission and photoelectron spectroscopy studies of interaction of nanocrystalline TiN and TiB₂ after highpressure sintering
за авторством: Bykov, A.I., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Bykov, A.I., та інші
Опубліковано: (2007)
Study of the electronic structure of Mn2-хCoxP2O7·5H2O at x=0.6, using X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
Electronic Structure of GdMeO3 (Me = V, Ni) Oxides: X-Ray Photoelectron and X-Ray Fluorescence Spectra and Band Structure Calculations
за авторством: V. M. Uvarov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. M. Uvarov, та інші
Опубліковано: (2013)
Diffusion phase transitions in (PbySn₁−y)₂P₂(SexS₁−x)₆ solid solutions
за авторством: Maior, M.M., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Maior, M.M., та інші
Опубліковано: (2003)
Valence fluctuations in Sn(Pb)₂P₂S₆ ferroelectrics
за авторством: Yevych, R., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Yevych, R., та інші
Опубліковано: (2016)
X-ray photoelectron and Nuclear Magnetic Resonance studies of sol-gel glass doped with 5% Ga
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2019)
X-ray photoelectron spectroscopic study of the electronic structure of Mn₂₋ₓCoₓP₂O₇·5H₂O, at x=1.0
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
Dielectric relaxation and freezing effect in Sn₂P₂S₆
за авторством: Maior, M.M., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Maior, M.M., та інші
Опубліковано: (2003)
Valence fluctuations in Sn(Pb)2P2S6 ferroelectrics
за авторством: R. Yevych, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: R. Yevych, та інші
Опубліковано: (2016)
Dipole models of proper ferroelectrics NaNO₂ and Sn(Pb)₂P₂S(Se)₆
за авторством: Drobnich, A., та інші
Опубліковано: (1998)
за авторством: Drobnich, A., та інші
Опубліковано: (1998)
The phase transitions character and microscopic models for Sn₂P₂S(Se)₆ ferroelectrics
за авторством: Vysochanskii, Yu., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Vysochanskii, Yu., та інші
Опубліковано: (2002)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
X-ray spectroscopy studies of the electronic structure and band-structure calculations of cubic TaCxN1-x carbonitrides
за авторством: Lavrentyev, A.A., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Lavrentyev, A.A., та інші
Опубліковано: (2006)
The influence of defects and conductivity on the domain structure properties and the memory effect in the ferroelectrics-semiconductors Sn₂P₂Se₆
за авторством: Vysochanskii, Yu.M., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Vysochanskii, Yu.M., та інші
Опубліковано: (1999)
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)
Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics
за авторством: Ivanov, V., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ivanov, V., та інші
Опубліковано: (2012)
X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
X-ray dosimetry of copper-doped CdGa₂S₄ single crystals
за авторством: Mustafaeva, S.N., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Mustafaeva, S.N., та інші
Опубліковано: (2012)
The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)
The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)
X-ray absorption near edge spectroscopy of thermochromic phase transition in CuMoO₄
за авторством: Jonane, I., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Jonane, I., та інші
Опубліковано: (2018)
X-ray photoelectron spectra and features of the electronic-energy structure of oxygen-stabilized phases of Zr4Fe2O and Zr4Ni2O
за авторством: A. A. Lavrentev, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: A. A. Lavrentev, та інші
Опубліковано: (2014)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)
The Structure Features of Synthetic Apatites With REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: II. Fluorhydroxyapatites
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2016)
The Structure Features of Synthetic Apatites with REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: I. Hydroxylapatites
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2015)
Investigation of β-CdP₂ crystals by laser spectroscopy methods
за авторством: Patskun, I.I., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Patskun, I.I., та інші
Опубліковано: (2004)
Схожі ресурси
-
Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004) -
X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface
за авторством: M. I. Terebinskaja, та інші
Опубліковано: (2016) -
The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009) -
Lattice dynamics and phase transitions in Sn₂P₂S(Se)₆ ferroelectric crystals
за авторством: Yevych, R.M., та інші
Опубліковано: (2006) -
Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)