Low-temperature positron annihilation study of B⁺-ion implanted PMMA
Temperature dependent positron annihilation lifetime spectroscopy (PALS) measurements in the range of 50–300 K are carried out to study positronium formation in 40 keV B+-ion implanted polymethylmethacrylate (B:PMMA) with two ion doses of 3.13·10¹⁵ and 3.75·10¹⁶ ions/cm². The investigated samples sh...
Gespeichert in:
| Datum: | 2014 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2014
|
| Schriftenreihe: | Физика низких температур |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119606 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Low-temperature positron annihilation study of B⁺-ion implanted PMMA / T.S. Kavetskyy, V.M. Tsmots, S.Ya. Voloshanska, O. Šauša, V.I. Nuzhdin, V.F. Valeev, Y.N. Osin, and A.L. Stepanov // Физика низких температур. — 2014. — Т. 40, № 8. — С. 959-963. — Бібліогр.: 30 назв. — англ. |