Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals

New phenomenological models are proposed to describe the effect of an ordered lattice structure of crystalline
 targets on the as-implanted doping profiles of low-energy heavy ions. The models account for the channeling
 kinetics and clarify the effect of bi-directional transitions o...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Condensed Matter Physics
Date:2009
Main Authors: Bratchenko, M.I., Dyuldya, S.V., Bakai, A.S.
Format: Article
Language:English
Published: Інститут фізики конденсованих систем НАН України 2009
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119771
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals / M.I. Bratchenko, S.V. Dyuldya, A.S. Bakai // Condensed Matter Physics. — 2009. — Т. 12, № 1. — С. 35-49. — Бібліогр.: 44 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862624283447001088
author Bratchenko, M.I.
Dyuldya, S.V.
Bakai, A.S.
author_facet Bratchenko, M.I.
Dyuldya, S.V.
Bakai, A.S.
citation_txt Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals / M.I. Bratchenko, S.V. Dyuldya, A.S. Bakai // Condensed Matter Physics. — 2009. — Т. 12, № 1. — С. 35-49. — Бібліогр.: 44 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Condensed Matter Physics
description New phenomenological models are proposed to describe the effect of an ordered lattice structure of crystalline
 targets on the as-implanted doping profiles of low-energy heavy ions. The models account for the channeling
 kinetics and clarify the effect of bi-directional transitions of ions between random-like and channeled modes
 of motion on the target depth dependencies of dopant concentration. They also incorporate a simple model
 of the target radiation damaging effect on doping profiles. The presented results of model validation against
 the experimental and Monte Carlo computer simulation data and the comparative analysis of the capabilities
 of the proposed and the existing models show that the application of a more physically grounded approach
 allows us to improve the quality of doping profile description. The theoretical models developed are useful for
 obtaining physical parameters of low-energy ion channeling kinetics from the experimental data. Запропоновано новi феноменологiчнi моделi опису впливу впорядкованої структури кристалiчної ґратки мiшеней на профiлi iмплантацiї низькоенергетичних важких iонiв. Моделi враховують кiнетику каналювання та проясняють вплив двобiчних переходiв iонiв мiж хаотичним та канальованим режимами руху на залежностi концентрацiї домiшки вiд глибини занурення у мiшень. Вони також мiстять в собi просту модель впливу радiацiйного пошкодження мiшенi на профiлi занурення. Представленi результати верифiкацiї моделей на експериментальних даних та даних комп’ютерного моделювання методом Монте-Карло поруч iз порiвняльним аналiзом можливостей запропонованих та iснуючих моделей показали, що застосування бiльш фiзично обґрунтованого пiдходу дозволяє покращити опис профiлiв iмплантацiї. Використовуючи запропонованi теоретичнi моделi, можна одержати з аналiзу експериментальних даних фiзичнi параметри кiнетики каналювання iонiв низьких енергiй.
first_indexed 2025-12-07T13:31:38Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-119771
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1607-324X
language English
last_indexed 2025-12-07T13:31:38Z
publishDate 2009
publisher Інститут фізики конденсованих систем НАН України
record_format dspace
spelling Bratchenko, M.I.
Dyuldya, S.V.
Bakai, A.S.
2017-06-08T13:03:45Z
2017-06-08T13:03:45Z
2009
Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals / M.I. Bratchenko, S.V. Dyuldya, A.S. Bakai // Condensed Matter Physics. — 2009. — Т. 12, № 1. — С. 35-49. — Бібліогр.: 44 назв. — англ.
1607-324X
PACS: 61.72.Tt, 85.40.Ry, 61.85.+p, 02.70.Uu
DOI:10.5488/CMP.12.1.35
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119771
New phenomenological models are proposed to describe the effect of an ordered lattice structure of crystalline
 targets on the as-implanted doping profiles of low-energy heavy ions. The models account for the channeling
 kinetics and clarify the effect of bi-directional transitions of ions between random-like and channeled modes
 of motion on the target depth dependencies of dopant concentration. They also incorporate a simple model
 of the target radiation damaging effect on doping profiles. The presented results of model validation against
 the experimental and Monte Carlo computer simulation data and the comparative analysis of the capabilities
 of the proposed and the existing models show that the application of a more physically grounded approach
 allows us to improve the quality of doping profile description. The theoretical models developed are useful for
 obtaining physical parameters of low-energy ion channeling kinetics from the experimental data.
Запропоновано новi феноменологiчнi моделi опису впливу впорядкованої структури кристалiчної ґратки мiшеней на профiлi iмплантацiї низькоенергетичних важких iонiв. Моделi враховують кiнетику каналювання та проясняють вплив двобiчних переходiв iонiв мiж хаотичним та канальованим режимами руху на залежностi концентрацiї домiшки вiд глибини занурення у мiшень. Вони також мiстять в собi просту модель впливу радiацiйного пошкодження мiшенi на профiлi занурення. Представленi результати верифiкацiї моделей на експериментальних даних та даних комп’ютерного моделювання методом Монте-Карло поруч iз порiвняльним аналiзом можливостей запропонованих та iснуючих моделей показали, що застосування бiльш фiзично обґрунтованого пiдходу дозволяє покращити опис профiлiв iмплантацiї. Використовуючи запропонованi теоретичнi моделi, можна одержати з аналiзу експериментальних даних фiзичнi параметри кiнетики каналювання iонiв низьких енергiй.
en
Інститут фізики конденсованих систем НАН України
Condensed Matter Physics
Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals
Удосконаленi феноменологiчнi моделi внеску каналювання iонiв до профiлiв iмплантацiї у кристали
Article
published earlier
spellingShingle Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals
Bratchenko, M.I.
Dyuldya, S.V.
Bakai, A.S.
title Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals
title_alt Удосконаленi феноменологiчнi моделi внеску каналювання iонiв до профiлiв iмплантацiї у кристали
title_full Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals
title_fullStr Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals
title_full_unstemmed Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals
title_short Enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals
title_sort enhanced phenomenological models of ion channeling contribution to doping profiles in crystals
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119771
work_keys_str_mv AT bratchenkomi enhancedphenomenologicalmodelsofionchannelingcontributiontodopingprofilesincrystals
AT dyuldyasv enhancedphenomenologicalmodelsofionchannelingcontributiontodopingprofilesincrystals
AT bakaias enhancedphenomenologicalmodelsofionchannelingcontributiontodopingprofilesincrystals
AT bratchenkomi udoskonalenifenomenologičnimodelivneskukanalûvannâionivdoprofilivimplantaciíukristali
AT dyuldyasv udoskonalenifenomenologičnimodelivneskukanalûvannâionivdoprofilivimplantaciíukristali
AT bakaias udoskonalenifenomenologičnimodelivneskukanalûvannâionivdoprofilivimplantaciíukristali