Зображення обкладинки

Indium induced nanostructures on In₄Se₃(100) surface studied by scanning tunneling microscopy

Indium deposition leads to changes in the scanning tunneling microscopy (STM)-revealed (100) surface morphology of In₄Se₃ layered semiconductor with the formation of nanostructures, which are characterized by different dimensionality dependent on different crystal growth conditions. Preferable forma...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Functional Materials
Дата:	2013
Автори:	Galiy, P.V., Nenchuk, T.M., Ciszewski, A., Mazur, P., Zuber, S., Buzhuk, Ya.M.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2013
Теми:	Characterization and properties
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119784
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Indium induced nanostructures on In₄Se₃(100) surface studied by scanning tunneling microscopy / P.V. Galiy, T.M. Nenchuk, A. Ciszewski, P. Mazur, S. Zuber, Ya.M. Buzhuk // Functional Materials. — 2013. — Т. 20, № 1. — С. 37-43. — Бібліогр.: 17 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface
за авторством: P. Galiy, та інші
Опубліковано: (2015)

Spatial resolution of scanning tunneling microscopy
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)

Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe₁–xTex
за авторством: Ekino, T., та інші
Опубліковано: (2013)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe1-xTex
за авторством: T. Ekino, та інші
Опубліковано: (2013)

Structural Aspect of Formation of a Nanosystem of In/In₄Se₃ (100)
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2018)

Nanostructural Studies of (100) Surfaces of In4Se3 Crystals Intercalated by Silver
за авторством: P. V. Halii, та інші
Опубліковано: (2013)

The possibility to determine a constant of spin-orbit interaction by scanning tunneling microscopy method
за авторством: N. V. Khotkevich, та інші
Опубліковано: (2016)

Study of nanostructured layers of single-crystal silicon by scanning tunnel spectroscopy
за авторством: Kulyk, S.P., та інші
Опубліковано: (2008)

New directions in point-contact spectroscopy based on scanning tunneling microscopy techniques (Review Article)
за авторством: Tartaglini, E., та інші
Опубліковано: (2013)

A suggestion of the graphene/Ge(111) structure based on ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy investigation
за авторством: A. Horiachko, та інші
Опубліковано: (2016)

A suggestion of the graphene/Ge(111) structure based on ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy investigation
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2016)

STM data: Gold Nanoreliefs on Van der Waals Surfaces of InSe Semiconductor Single Crystals Obtained by High-Resolution Scanning Tunneling Microscopy Methods
за авторством: Karbivskyy Volodymyr, та інші
Опубліковано: (2024)

Laser-Induced After-Effect in Tunnel Magnetic Nanostructures
за авторством: Krupa, M.M., та інші
Опубліковано: (2014)

Laser-Induced After-Effect in Tunnel Magnetic Nanostructures
за авторством: M. M. Krupa, та інші
Опубліковано: (2014)

Atomic structures and nanoscale electronic states on the surface of MgB2 superconductor observed by scanning tunneling microscopy and spectroscopy
за авторством: A. Sugimoto, та інші
Опубліковано: (2019)

Особливості нікелевих наноструктур сформованих на міжшарових поверхнях сколювання (0001) інтеркалатів NiхInSe
за авторством: Galiy, P. V., та інші
Опубліковано: (2018)

New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

New materials for luminescent scanning near-field microscopy
за авторством: Chornii, V., та інші
Опубліковано: (2013)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: H. M. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

In situ scanning electron microscopy study of fatigue crack propagation
за авторством: Jacobsson, L., та інші
Опубліковано: (2008)

Drift correction of the analyzed area during the study of the lateral elemental composition distribution in single semiconductor nanostructures by scanning Auger microscopy
за авторством: Ponomaryov, S.S., та інші
Опубліковано: (2016)

Drift correction of the analyzed area during the study of the lateral elemental composition distribution in single semiconductor nanostructures by scanning Auger microscopy
за авторством: S. S. Ponomaryov, та інші
Опубліковано: (2016)

Scanning near-field optical microscopy of magnetic structures in magnetic films
за авторством: Belotelov, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)

Study of Structural-Relaxation Processes on Surface of Amorphous Fe77Si8B15 Alloy by the Methods of Scanning Tunnelling Microscopy and Spectroscopy
за авторством: V. L. Karbovskij, та інші
Опубліковано: (2012)

The peculiarities of nickel nanostructures formed on interlayer (0001) cleavage surfaces of NikhInSe intercalates
за авторством: P. V. Halii, та інші
Опубліковано: (2018)

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011)

Investigation of Ag2O–B2O3-system glass by means of the method of scanning tunnelling microscopy with semicon-ducting diamond tip
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2012)

Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by scanning probe microscopy methods
за авторством: O. I. Synhaivska, та інші
Опубліковано: (2016)

Studies of topological features of the surface relief formation of titanium nitride films on silicon substrates during the diffusion mass transfer and on annealing using scanning tunneling microscopy
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2013)

Low-energy-electron-diffraction structural studies of (100) cleavage surfaces of In4Se3 layered crystals
за авторством: P. V. Galiy, та інші
Опубліковано: (2014)

Study of phase transformations in silicon by scanning tunneling spectroscopy and nanoindentation
за авторством: O. G. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Особливості кристалографії поверхонь сколювання (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3
за авторством: Galiy, P. V.
Опубліковано: (2014)

Boron-doped diamond single crystals for probes of the high-vacuum tunneling microscopy
за авторством: A. P. Chepugov, та інші
Опубліковано: (2013)

Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)

The exact solution of self-consistent equations in the scanning near-field optic microscopy problem
за авторством: Lozovski, V., та інші
Опубліковано: (1999)

Scanning electron microscopy in the study of the structures of eutectic alloys of iron and chromium with refractory borides
за авторством: Ye. Panarin
Опубліковано: (2019)