The distribution of field-induced charges in C₆₀ fullerite
The profile of injected charges in a C₆₀-based field-effect transistor (FET) is considered. A simple scheme for calculations of the charge distribution between the 2D layers of C₆₀ molecules is founded on a small magnitude of the interball electron hopping. Analytical solutions of the equations f...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физика низких температур |
|---|---|
| Дата: | 2006 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2006
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120055 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | The distribution of field-induced charges in C₆₀ fullerite / V.A. Kuprievich, O.L. Kapitanchuk, O.V. Shramko, Z.G. Kudritska // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 1. — С. 125-128. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |