Зображення обкладинки

Degradation of electrooptical characteristics of serial GaP light-emitting diodes, caused by fast electrons

The study of electrical and optical characteristics of GaP LEDs irradiated with electrons (E = 2 MeV, Ф = 0…10¹⁵ cm⁻²) was performed. Especial interest was focused on appearing of S-type instability in current-voltage characteristics and its mechanism in accord with the model by K. Maeda. Made in th...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:2015
ISSN:1560-8034
Автори: Konoreva, O.V., Lytovchenko, M.V., Malyi, Ye.V., Petrenko, I.V., Pinkovska, M.B., Tartachnyk, V.P., Shlapatska, V.V.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121204
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Degradation of electrooptical characteristics of serial GaP light-emitting diodes, caused by fast electrons / O.V. Konoreva, M.V. Lytovchenko, Ye.V. Malyi, I.V. Petrenko, M.B. Pinkovska, V.P. Tartachnyk, V.V. Shlapatska // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2015. — Т. 18, № 3. — С. 312-316. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Схожі ресурси