Лукин, К., Татьянко, Д., Пих, А., & Земляный, О. (2017). Измерение толщин оптически прозрачных слоистых структур методом спектральной интерферометрии. Радіофізика та електроніка.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Лукин, К.А, Д.Н Татьянко, А.Б Пих, та О.В Земляный. "Измерение толщин оптически прозрачных слоистых структур методом спектральной интерферометрии." Радіофізика та електроніка 2017.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Лукин, К.А, et al. "Измерение толщин оптически прозрачных слоистых структур методом спектральной интерферометрии." Радіофізика та електроніка, 2017.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.