Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory

NbN and Nb–Si–N films have been deposited by magnetron sputtering of the Nb and Si targets on silicon wafers at various powers supplied to the Nb target. The films have been investigated by an atomic force microscope, X-ray diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy, nanoindentaion and microinden...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Сверхтвердые материалы
Date:2014
Main Authors: Ivashchenko, V.I., Scrynskyy, P.L., Lytvyn, O.S., Butenko, O.O., Sinelnichenko, O.K., Gorb, L., Hill, F., Leszczynski, J., Kozak, A.O.
Format: Article
Language:English
Published: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2014
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126127
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory / V.I. Ivashchenko, P.L. Scrynskyy, O.S. Lytvyn, O.O. Butenko, O.K. Sinelnichenko, L. Gorb, F. Hill, J. Leszczynski, A.O. Kozak // Сверхтвердые материалы. — 2014. — № 6. — С. 29-43. — Бібліогр.: 37 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-126127
record_format dspace
spelling Ivashchenko, V.I.
Scrynskyy, P.L.
Lytvyn, O.S.
Butenko, O.O.
Sinelnichenko, O.K.
Gorb, L.
Hill, F.
Leszczynski, J.
Kozak, A.O.
2017-11-15T17:55:31Z
2017-11-15T17:55:31Z
2014
Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory / V.I. Ivashchenko, P.L. Scrynskyy, O.S. Lytvyn, O.O. Butenko, O.K. Sinelnichenko, L. Gorb, F. Hill, J. Leszczynski, A.O. Kozak // Сверхтвердые материалы. — 2014. — № 6. — С. 29-43. — Бібліогр.: 37 назв. — англ.
0203-3119
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126127
621.793.1:621.9.02:620.18
NbN and Nb–Si–N films have been deposited by magnetron sputtering of the Nb and Si targets on silicon wafers at various powers supplied to the Nb target. The films have been investigated by an atomic force microscope, X-ray diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy, nanoindentaion and microindentation. The NbN films were nanostructured, and the Nb–Si–N films represented an aggregation of δ-NbNx nanocrystallites embedded into the amorphous CSi₃N₄ matrix (nc-δ-NbNx/a-CSi₃N₄). The annealing of the films in vacuum showed that their intensive oxidation occurred at annealing temperature higher than 600 °C. To explain the experimental results on the Nb–Si–N films, first-principles molecular dynamics simulations of the NbN(001)/CSi₃N₄ heterostructures have been carried out.
NbN і Nb–Si–N плівки осаджували на кремнієві пластини методом магнетронного розпилення мішеней Nb і Si при різних потужностях розряду на мішені із Nb. Плівки були досліджені за допомогою атомно-силового мікроскопа, дифракції рентгенівських променів, рентгенівської фотоелектронної спектроскопії, нано- і мікроіндентування. NbN плівки були наноструктуровані, тоді як Nb–Si–N плівки являли агрегацію δ-NbNx нанокристалітів, вкраплених в аморфну CSi₃N₄ матрицю (nc-δ-NbNx/ a-CSi₃N₄). Відпал плівок у вакуумі показав, що їх інтенсивне окислення відбувається при температурі вищій, ніж 600 °C. Для пояснення експериментальних результатів по Nb–Si–N плівках проведено моделювання NbN (001)/CSi₃N₄ гетероструктури із перших принципів в рамках молекулярної динаміки.
NbN и Nb–Si–N пленки осаждали на кремниевые пластины методом магнетронного распыления мишеней Nb и Si при различных мощностях разряда на мишени с Nb. Пленки были исследованы с помощью атомно-силового микроскопа, дифракции рентгеновских лучей, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, нано- и микроиндентирования. NbN пленки были наноструктурированные, тогда как Nb–Si–N пленки представляли агрегацию δ-NbNx нанокристаллитов, вкрапленных в аморфную CSi₃N₄ матрицу (nc-δ-NbNx/a-CSi₃N₄). Отжиг пленок в вакууме показал, что их интенсивное окисление происходит при температуре выше, чем 600 °C. Для объяснения экспериментальных результатов по Nb–Si–N пленках проведено моделирование NbN (001)/CSi₃N₄ гетероструктуры из первых принципов в рамках молекулярной динамики.
This work was partially supported by STCU Contract No. 5539. The authors are grateful to Dr. Timofejeva, I. I. and Dr. Dub, S. N. for XRD investigations and nanoindentation of the films. The authors are grateful to the directorate of the Summery Institute at Jackson State University for financial support and the possibility to perform large-scale calculations.
en
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
Сверхтвердые материалы
Получение, структура, свойства
Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory
spellingShingle Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory
Ivashchenko, V.I.
Scrynskyy, P.L.
Lytvyn, O.S.
Butenko, O.O.
Sinelnichenko, O.K.
Gorb, L.
Hill, F.
Leszczynski, J.
Kozak, A.O.
Получение, структура, свойства
title_short Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory
title_full Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory
title_fullStr Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory
title_full_unstemmed Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory
title_sort comparative investigation of nbn and nb–si–n films: experiment and theory
author Ivashchenko, V.I.
Scrynskyy, P.L.
Lytvyn, O.S.
Butenko, O.O.
Sinelnichenko, O.K.
Gorb, L.
Hill, F.
Leszczynski, J.
Kozak, A.O.
author_facet Ivashchenko, V.I.
Scrynskyy, P.L.
Lytvyn, O.S.
Butenko, O.O.
Sinelnichenko, O.K.
Gorb, L.
Hill, F.
Leszczynski, J.
Kozak, A.O.
topic Получение, структура, свойства
topic_facet Получение, структура, свойства
publishDate 2014
language English
container_title Сверхтвердые материалы
publisher Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
format Article
description NbN and Nb–Si–N films have been deposited by magnetron sputtering of the Nb and Si targets on silicon wafers at various powers supplied to the Nb target. The films have been investigated by an atomic force microscope, X-ray diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy, nanoindentaion and microindentation. The NbN films were nanostructured, and the Nb–Si–N films represented an aggregation of δ-NbNx nanocrystallites embedded into the amorphous CSi₃N₄ matrix (nc-δ-NbNx/a-CSi₃N₄). The annealing of the films in vacuum showed that their intensive oxidation occurred at annealing temperature higher than 600 °C. To explain the experimental results on the Nb–Si–N films, first-principles molecular dynamics simulations of the NbN(001)/CSi₃N₄ heterostructures have been carried out. NbN і Nb–Si–N плівки осаджували на кремнієві пластини методом магнетронного розпилення мішеней Nb і Si при різних потужностях розряду на мішені із Nb. Плівки були досліджені за допомогою атомно-силового мікроскопа, дифракції рентгенівських променів, рентгенівської фотоелектронної спектроскопії, нано- і мікроіндентування. NbN плівки були наноструктуровані, тоді як Nb–Si–N плівки являли агрегацію δ-NbNx нанокристалітів, вкраплених в аморфну CSi₃N₄ матрицю (nc-δ-NbNx/ a-CSi₃N₄). Відпал плівок у вакуумі показав, що їх інтенсивне окислення відбувається при температурі вищій, ніж 600 °C. Для пояснення експериментальних результатів по Nb–Si–N плівках проведено моделювання NbN (001)/CSi₃N₄ гетероструктури із перших принципів в рамках молекулярної динаміки. NbN и Nb–Si–N пленки осаждали на кремниевые пластины методом магнетронного распыления мишеней Nb и Si при различных мощностях разряда на мишени с Nb. Пленки были исследованы с помощью атомно-силового микроскопа, дифракции рентгеновских лучей, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, нано- и микроиндентирования. NbN пленки были наноструктурированные, тогда как Nb–Si–N пленки представляли агрегацию δ-NbNx нанокристаллитов, вкрапленных в аморфную CSi₃N₄ матрицу (nc-δ-NbNx/a-CSi₃N₄). Отжиг пленок в вакууме показал, что их интенсивное окисление происходит при температуре выше, чем 600 °C. Для объяснения экспериментальных результатов по Nb–Si–N пленках проведено моделирование NbN (001)/CSi₃N₄ гетероструктуры из первых принципов в рамках молекулярной динамики. This work was partially supported by STCU Contract No. 5539. The authors are grateful to Dr. Timofejeva, I. I. and Dr. Dub, S. N. for XRD investigations and nanoindentation of the films. The authors are grateful to the directorate of the Summery Institute at Jackson State University for financial support and the possibility to perform large-scale calculations.
issn 0203-3119
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126127
fulltext
citation_txt Comparative investigation of NbN and Nb–Si–N films: experiment and theory / V.I. Ivashchenko, P.L. Scrynskyy, O.S. Lytvyn, O.O. Butenko, O.K. Sinelnichenko, L. Gorb, F. Hill, J. Leszczynski, A.O. Kozak // Сверхтвердые материалы. — 2014. — № 6. — С. 29-43. — Бібліогр.: 37 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT ivashchenkovi comparativeinvestigationofnbnandnbsinfilmsexperimentandtheory
AT scrynskyypl comparativeinvestigationofnbnandnbsinfilmsexperimentandtheory
AT lytvynos comparativeinvestigationofnbnandnbsinfilmsexperimentandtheory
AT butenkooo comparativeinvestigationofnbnandnbsinfilmsexperimentandtheory
AT sinelnichenkook comparativeinvestigationofnbnandnbsinfilmsexperimentandtheory
AT gorbl comparativeinvestigationofnbnandnbsinfilmsexperimentandtheory
AT hillf comparativeinvestigationofnbnandnbsinfilmsexperimentandtheory
AT leszczynskij comparativeinvestigationofnbnandnbsinfilmsexperimentandtheory
AT kozakao comparativeinvestigationofnbnandnbsinfilmsexperimentandtheory
first_indexed 2025-11-24T10:16:01Z
last_indexed 2025-11-24T10:16:01Z
_version_ 1850844670974754816