Statistical model analysis of local structure of quaternary sphalerite crystals

• Veröffentlicht in: Физика низких температур
• Datum: 2007
• Hauptverfasser: Robouch, B.V., Kisie, A., Marcelli, A., Sheregii, E.M., Cestelli Guidi, M., Piccinini, M., Polit, J., Cebulski, J., Mycielsk, A., Ivanov-Omski, V.I., Sciesinska, E., Sciesinski, J., Burattini, E.
• Format: Artikel
• Sprache: English
• Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2007
• Schlagworte: Структура и свойства полупроводников с переходными элементами
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127732
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Statistical model analysis of local structure of quaternary sphalerite crystals / B.V. Robouch, A. Kisiel, A. Marcelli, E.M. Sheregii, M. Cestelli Guidi, M. Piccinini, J. Polit, J. Cebulski, A. Mycielski, V.I. Ivanov-Omskii, E. Sciesinska, J. Sciesinski, and E. Burattini // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 2-3. — С. 291-303. — Бібліогр.: 40 назв. — англ.

At the 2004 Ural International Winter School, we introduced the statistical strained tetrahedron model and discussed ternary tetrahedron structured crystals. The model allows one to interpret x-ray absorption fine structure (EXAFS) data and extract quantitative information on ion site occupation...