Критические токи в тонких YBa₂Cu₃O₇₋x ВТСП пленках, облученных электронами c энеpгией 4 МэВ

• Опубліковано в: : Физика низких температур
• Дата: 2000
• Автори: Федотов, Ю.В., Рябченко, С.М., Шахов, А.П.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2000
• Теми: Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/129096
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Критические токи в тонких YBa₂Cu₃O₇₋x ВТСП пленках, облученных электронами c энеpгией 4 МэВ / Ю.В. Федотов, С.М. Рябченко, А.П. Шахов // Физика низких температур. — 2000. — Т. 26, № 7. — С. 638-641. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.

Обнаружено уменьшение плотности критического тока Jc тонкой пленки YBa₂Cu₃O₇₋x после ее облучения электронами с энеpгией 4 МэВ. Показано, что температурная зависимость Jc согласуется с представлением о гранулярной структуре пленки с межгранульными контактами типа сверхпроводник- металл-диэлектрик-сверхпроводник. A decrease in the critical current density Jc of a YBa₂Cu₃O₇₋x thin film is observed after its irradiation by 4-MeV electrons. It is shown that the temperature dependence of Jc agrees with the idea of a granular structure of the film, with intergranular contacts of the superconductor–metal–insulator–superconductor type.