Surface plasmon-polariton resonance at diffraction of THz radiation on semiconductor gratings

Resonance diffraction of THz hidrogen cyanide laser radiation on a semiconductor (InSb) grating is studied both experimentally and theoretically. The specular reflectivity suppression due to the resonance excitation of the THz surface plasmon-polariton is observed on a pure semiconductor grating a...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физика низких температур
Datum:2016
Hauptverfasser: Spevak, I.S., Kuzmenko, A.A., Tymchenko, M., Gavrikov, V.K., Shulga, V.M., Feng, J., Sun, H.B., Kamenev, Yu.E., Kats, A.V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2016
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/129275
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Surface plasmon-polariton resonance at diffraction of THz radiation on semiconductor gratings / I.S. Spevak, A.A. Kuzmenko, M. Tymchenko, V.K. Gavrikov, V.M. Shulga, J. Feng, H.B. Sun, Yu.E. Kamenev, A.V. Kats // Физика низких температур. — 2016. — Т. 42, № 8. — С. 887-891. — Бібліогр.: 29 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine