Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device
The function of thin film photovoltaic device on the base of copper indium diselenide (CIS) depends immediately on the character of interactions in the layers being in contact therein: base CIS layer, buffer ZnSe layer, transparent conductive film of indium-tin oxide (ITO). Such interaction may occu...
Saved in:
| Published in: | Functional Materials |
|---|---|
| Date: | 2005 |
| Main Authors: | , , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135338 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device / N.P. Klochko, N.D. Volkova, M.V. Dobrotvorskaya, P.V. Mateychenko, V.R. Kopach, V.I. Shkaleto, S.N. Karasyov // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 228-233. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-135338 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Klochko, N.P. Volkova, N.D. Dobrotvorskaya, M.V. Mateychenko, P.V. Kopach, V.R. Shkaleto, V.I. Karasyov, S.N. 2018-06-15T03:58:31Z 2018-06-15T03:58:31Z 2005 Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device / N.P. Klochko, N.D. Volkova, M.V. Dobrotvorskaya, P.V. Mateychenko, V.R. Kopach, V.I. Shkaleto, S.N. Karasyov // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 228-233. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135338 The function of thin film photovoltaic device on the base of copper indium diselenide (CIS) depends immediately on the character of interactions in the layers being in contact therein: base CIS layer, buffer ZnSe layer, transparent conductive film of indium-tin oxide (ITO). Such interaction may occur during ZnSe electrodeposition from solution on the ITO or CIS surfaces as well as during vacuum annealing used in the technological process to modify the CIS crystal structure. The investigations using scanning electron microscopy, energy dispersing X-ray spectroscopy, electron-probe microanalysis, X-ray diffractometry, and X-ray photoelectron spectroscopy have shown that during vacuum annealing of the glass/Mo/CIS/ZnSe compositions, the buffer layer is purified of contamination, but the same annealing of the glass/Mo/ITO/ZnSe compositions enriches the buffer layer in indium and transforms it into ZnlnᵪSeᵧ. Функционирование тонкопленочного фотоэлектрического преобразователя (ФЭП) на базе диселенида меди и индия (CIS) непосредственно зависит от характера взаимодействия контактирующих в нем базового слоя CIS, буферного слоя ZnSe и прозрачной электропроводной пленки оксида индия и олова (ITO). Такое взаимодействие может иметь место как в процессе электрохимического осаждения ZnSe из раствора на поверхность ITO или CIS, так и в процессе вакуумных отжигов, используемых в технологическом процессе изготовления ФЭП для модификации кристаллической структуры CIS. Исследования методами электронной микроскопии в режимах сканирования поверхности и рентгеновского микроанализа, рентгеновской спектроскопии с дисперсией по энергиям, рентгеновской дифрактометрии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии позволили обнаружить, что в процессе вакуумных отжигов композитов стекло/Mo/CIS/ZnSe буферный слой очищается от примесей, тогда как при отжигах композитов стекло/Mo/ITO/ZnSe он обогащается индием и превращается в ZnlnᵪSeᵧ. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device |
| spellingShingle |
Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device Klochko, N.P. Volkova, N.D. Dobrotvorskaya, M.V. Mateychenko, P.V. Kopach, V.R. Shkaleto, V.I. Karasyov, S.N. |
| title_short |
Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device |
| title_full |
Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device |
| title_fullStr |
Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device |
| title_full_unstemmed |
Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device |
| title_sort |
layer interaction in thin film cis based photovoltaic device |
| author |
Klochko, N.P. Volkova, N.D. Dobrotvorskaya, M.V. Mateychenko, P.V. Kopach, V.R. Shkaleto, V.I. Karasyov, S.N. |
| author_facet |
Klochko, N.P. Volkova, N.D. Dobrotvorskaya, M.V. Mateychenko, P.V. Kopach, V.R. Shkaleto, V.I. Karasyov, S.N. |
| publishDate |
2005 |
| language |
English |
| container_title |
Functional Materials |
| publisher |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| format |
Article |
| description |
The function of thin film photovoltaic device on the base of copper indium diselenide (CIS) depends immediately on the character of interactions in the layers being in contact therein: base CIS layer, buffer ZnSe layer, transparent conductive film of indium-tin oxide (ITO). Such interaction may occur during ZnSe electrodeposition from solution on the ITO or CIS surfaces as well as during vacuum annealing used in the technological process to modify the CIS crystal structure. The investigations using scanning electron microscopy, energy dispersing X-ray spectroscopy, electron-probe microanalysis, X-ray diffractometry, and X-ray photoelectron spectroscopy have shown that during vacuum annealing of the glass/Mo/CIS/ZnSe compositions, the buffer layer is purified of contamination, but the same annealing of the glass/Mo/ITO/ZnSe compositions enriches the buffer layer in indium and transforms it into ZnlnᵪSeᵧ.
Функционирование тонкопленочного фотоэлектрического преобразователя (ФЭП) на базе диселенида меди и индия (CIS) непосредственно зависит от характера взаимодействия контактирующих в нем базового слоя CIS, буферного слоя ZnSe и прозрачной электропроводной пленки оксида индия и олова (ITO). Такое взаимодействие может иметь место как в процессе электрохимического осаждения ZnSe из раствора на поверхность ITO или CIS, так и в процессе вакуумных отжигов, используемых в технологическом процессе изготовления ФЭП для модификации кристаллической структуры CIS. Исследования методами электронной микроскопии в режимах сканирования поверхности и рентгеновского микроанализа, рентгеновской спектроскопии с дисперсией по энергиям, рентгеновской дифрактометрии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии позволили обнаружить, что в процессе вакуумных отжигов композитов стекло/Mo/CIS/ZnSe буферный слой очищается от примесей, тогда как при отжигах композитов стекло/Mo/ITO/ZnSe он обогащается индием и превращается в ZnlnᵪSeᵧ.
|
| issn |
1027-5495 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135338 |
| citation_txt |
Layer interaction in thin film CIS based photovoltaic device / N.P. Klochko, N.D. Volkova, M.V. Dobrotvorskaya, P.V. Mateychenko, V.R. Kopach, V.I. Shkaleto, S.N. Karasyov // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 228-233. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT klochkonp layerinteractioninthinfilmcisbasedphotovoltaicdevice AT volkovand layerinteractioninthinfilmcisbasedphotovoltaicdevice AT dobrotvorskayamv layerinteractioninthinfilmcisbasedphotovoltaicdevice AT mateychenkopv layerinteractioninthinfilmcisbasedphotovoltaicdevice AT kopachvr layerinteractioninthinfilmcisbasedphotovoltaicdevice AT shkaletovi layerinteractioninthinfilmcisbasedphotovoltaicdevice AT karasyovsn layerinteractioninthinfilmcisbasedphotovoltaicdevice |
| first_indexed |
2025-12-07T19:04:55Z |
| last_indexed |
2025-12-07T19:04:55Z |
| _version_ |
1850877459482804224 |