Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀
В интервале температур 300-5К электроннооптическими методами исследована структура и параметр решетки пленок фуллерита C₆₀, сконденсированных в вакууме на поверхность (100) NaCl при температурах подложки 290-400К. Пpи комнатной темпеpатуpе пленки фуллерита имели ГЦК решетку. При изменении температур...
Gespeichert in:
| Datum: | 1999 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | Пугачев, А.Т., Чуракова, Н.П., Горбенко, Н.И., Саадли, Х., Солодовник, А.А. |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1999
|
| Schriftenreihe: | Физика низких температур |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136223 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ / А.Т. Пугачев, Н.П. Чуракова, Н.И. Горбенко, Х. Саадли, А.А. Солодовник // Физика низких температур. — 1999. — Т. 25, № 3. — С. 298-304. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
-
Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀
von: Пугачев, А.Т., et al.
Veröffentlicht: (1999) -
Структура, параметры решетки и анизотропия теплового расширения фуллерита C₇₀
von: Исакина, А.П., et al.
Veröffentlicht: (2001) -
Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле
von: Салий, Я.П., et al.
Veröffentlicht: (2017) -
Параметры решетки и тепловое расширение силана SiH₄
von: Гальцов, Н.Н., et al.
Veröffentlicht: (2008) -
Параметры решетки и тепловое расширение силана SiH₄
von: Гальцов, Н.Н., et al.
Veröffentlicht: (2008)