Optical properties of Ge-As-S thin films
Thin Ge-As-S films have been prepared by thermal vacuum evaporation. Optical parameters and thickness values of the films have been calculated basing on transmission spectra. The dispersion dependences of the refractive index have been shown to be described well by the single oscillator model. The o...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Functional Materials |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2009
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136625 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Optical properties of Ge-As-S thin films // I.D. Tolmachov, A.V. Stronski // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 32-35. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862552803156688896 |
|---|---|
| author | Tolmachov, I.D. Stronski, A.V. |
| author_facet | Tolmachov, I.D. Stronski, A.V. |
| citation_txt | Optical properties of Ge-As-S thin films // I.D. Tolmachov, A.V. Stronski // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 32-35. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Functional Materials |
| description | Thin Ge-As-S films have been prepared by thermal vacuum evaporation. Optical parameters and thickness values of the films have been calculated basing on transmission spectra. The dispersion dependences of the refractive index have been shown to be described well by the single oscillator model. The optical band gap width has been determined using the Tauc dependence. The non-linear optical properties of the films have been estimated basing on the data obtained.
Методом термічного вакуумного випаровування отримано тонкі плівки складу Ge-As-S. Із спектрів пропускання розраховані оптичні сталі та товщини плівок. Показано, що дисперсійні залежності показника заломлення добре описуються одноосциляторною моделлю. 3а допомогою залежності Тауца визначено ширину оптичної забороненої зони. На основі отриманих даних проведено оцінку нелінійних оптичних властивостей плівок.
Методом термического вакуумного испарения получены тонкие пленки состава Ge-As-S. Из спектров пропускания рассчитаны толщины пленок и оптические постоянные. Показано, что дисперсионные зависимости показателя преломления хорошо описываются одноосцилляторной моделью. С помощью зависимости Тауца определена ширина оптический запрещенной зоны. На основании полученных данных проведена оценка нелинейных оптических свойств пленок.
|
| first_indexed | 2025-11-25T21:07:34Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-136625 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-5495 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-11-25T21:07:34Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Tolmachov, I.D. Stronski, A.V. 2018-06-16T14:36:55Z 2018-06-16T14:36:55Z 2009 Optical properties of Ge-As-S thin films // I.D. Tolmachov, A.V. Stronski // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 32-35. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136625 Thin Ge-As-S films have been prepared by thermal vacuum evaporation. Optical parameters and thickness values of the films have been calculated basing on transmission spectra. The dispersion dependences of the refractive index have been shown to be described well by the single oscillator model. The optical band gap width has been determined using the Tauc dependence. The non-linear optical properties of the films have been estimated basing on the data obtained. Методом термічного вакуумного випаровування отримано тонкі плівки складу Ge-As-S. Із спектрів пропускання розраховані оптичні сталі та товщини плівок. Показано, що дисперсійні залежності показника заломлення добре описуються одноосциляторною моделлю. 3а допомогою залежності Тауца визначено ширину оптичної забороненої зони. На основі отриманих даних проведено оцінку нелінійних оптичних властивостей плівок. Методом термического вакуумного испарения получены тонкие пленки состава Ge-As-S. Из спектров пропускания рассчитаны толщины пленок и оптические постоянные. Показано, что дисперсионные зависимости показателя преломления хорошо описываются одноосцилляторной моделью. С помощью зависимости Тауца определена ширина оптический запрещенной зоны. На основании полученных данных проведена оценка нелинейных оптических свойств пленок. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials Characterization and properties Optical properties of Ge-As-S thin films Оптичні властивості тонких плівок Ge-As-S Article published earlier |
| spellingShingle | Optical properties of Ge-As-S thin films Tolmachov, I.D. Stronski, A.V. Characterization and properties |
| title | Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_alt | Оптичні властивості тонких плівок Ge-As-S |
| title_full | Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_fullStr | Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_full_unstemmed | Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_short | Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_sort | optical properties of ge-as-s thin films |
| topic | Characterization and properties |
| topic_facet | Characterization and properties |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136625 |
| work_keys_str_mv | AT tolmachovid opticalpropertiesofgeassthinfilms AT stronskiav opticalpropertiesofgeassthinfilms AT tolmachovid optičnívlastivostítonkihplívokgeass AT stronskiav optičnívlastivostítonkihplívokgeass |