Kudryavtsev, Y., Lee, Y., Hyun, Y., Pavlova, E., & Makogon, Y. (2005). Ellipsometric evidence of CoSi₂ formation in Co/Si multilayer induced by thermal annealing. Functional Materials.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Kudryavtsev, Y.V, Y.P Lee, Y.H Hyun, E.P Pavlova, та Y.N Makogon. "Ellipsometric Evidence of CoSi₂ Formation in Co/Si Multilayer Induced by Thermal Annealing." Functional Materials 2005.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Kudryavtsev, Y.V, et al. "Ellipsometric Evidence of CoSi₂ Formation in Co/Si Multilayer Induced by Thermal Annealing." Functional Materials, 2005.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.