Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere

Effects of the substrate temperature Tₛ (20-420 ℃) and the oxygen pressure in the evaporation chamber Р(О₂) (10⁻⁵-10⁻² Torr) on the structure and phase composition of films obtained by pulse laser sputtering of a chromium target have been studied by electron microscopy (using the...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Functional Materials
Date:2006
Main Authors: Bagmut, A.G., Grigorov, S.N., Zhuchkov, V.A., Kolosov, V.Yu., Kosevich, V.M., Nikolaichuk, G.P.
Format: Article
Language:English
Published: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2006
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140069
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere / A.G. Bagmut, S.N. Grigorov, V.A. Zhuchkov, V.Yu. Kolosov, V.M. Kosevich, G.P. Nikolaichuk // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 206-213. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862707114578804736
author Bagmut, A.G.
Grigorov, S.N.
Zhuchkov, V.A.
Kolosov, V.Yu.
Kosevich, V.M.
Nikolaichuk, G.P.
author_facet Bagmut, A.G.
Grigorov, S.N.
Zhuchkov, V.A.
Kolosov, V.Yu.
Kosevich, V.M.
Nikolaichuk, G.P.
citation_txt Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere / A.G. Bagmut, S.N. Grigorov, V.A. Zhuchkov, V.Yu. Kolosov, V.M. Kosevich, G.P. Nikolaichuk // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 206-213. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Functional Materials
description Effects of the substrate temperature Tₛ (20-420 ℃) and the oxygen pressure in the evaporation chamber Р(О₂) (10⁻⁵-10⁻² Torr) on the structure and phase composition of films obtained by pulse laser sputtering of a chromium target have been studied by electron microscopy (using the extinction bending contour technique to analyze the crystal lattice bending). At a fixed Tₛ, the oxygen content in amorphous films increases with increasing Р(О₂), while at a fixed Р(О₂), it decreases with elevating Tₛ. The influence of amorphous matrix composition and thickness t on the structure and morphology of crystals growing under annealing of the films by an electron beam has been studied. The bending of spherulite crystal lattice has been found to decrease with increasing over- stoichiometric Cr concentration in amorphous matrix and with increasing distance up to
 the center of an zone-axial pattern of the spherulite. At small film thickness t ≤ t ≈ 2.5 to
 3 nm, the crystallization is hindered due to dimensional and impurity effect of the amorphous state stabilization. Проведено электронно-микроскопическое исследование (с использованием техники анализа искривления кристаллической решетки методом изгибных экстинкционных
 контуров) влияния температуры подложки Tₛ (20-420 ℃) и давления кислорода в испарительной камере Р(О₂) (10⁻⁵-10⁻² торр) на структуру и фазовый состав пленок, полученных лазерным распылением мишени хрома. При фиксированной TS содержание кислорода в аморфных пленках возрастает с увеличением Р(О₂), а при фиксированном Р(О₂) - уменьшается с ростом Tₛ. Изучено влияние состава и толщины t аморфной матрицы на структуру и морфологию кристаллов, растущих при отжиге пленок электронным лучом. Показано, что искривление кристаллической решетки сферолитов уменьшается с увеличением концентрации в аморфной матрице избыточного сверхстехиометрического хрома и с увеличением расстояния до центра зонно-осевой картины сферолита. При t ≤ t ≈ 2.5-3 нм кристаллизация затруднена вследствие проявления размерно-примесного эффекта стабилизации аморфного состояния. Проведено електронно-мiкроскопiчне дослiдження (iз використанням технiки аналiзу скривлення кристалiчних граток методом згинних екстинкцiйних контурiв) впливу
 температури пiдкладки Tₛ (20-420 ℃) i тиску кисню у випарнiй камерi Р(О₂) (10⁻⁵-10⁻² торр) на структуру i фазовий склад плiвок, осаджених лазерним розпиленням мiшенi хрому. При фiксованiй Tₛ вмiст кисню в аморфних плiвках зростае зi збiльшенням Р(О₂), а при фiксованому Р(О₂) - зменшується з ростом Tₛ. Вивчено вплив складу i товщини t аморфної матрицi на структуру i морфологiю кристалiв, що ростуть при вiдпалi плiвок електронним променем. Показано, що скривлення кристалiчних граток сферолiтiв зменшуються зi збiльшенням концентрацiї в аморфнiй матрицi надлишкового надстехiометричного хрому i зi збiльшенням вiдстанi до центра зонно-осьової картини сферолiту. При t ≤ t ≈ 2.5 -3 нм кристалiзацiя утруднена внаслiдок прояву розмiрно- домiшкового ефекту стабiлiзацiї аморфного стану.
first_indexed 2025-12-07T17:03:21Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-140069
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1027-5495
language English
last_indexed 2025-12-07T17:03:21Z
publishDate 2006
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
record_format dspace
spelling Bagmut, A.G.
Grigorov, S.N.
Zhuchkov, V.A.
Kolosov, V.Yu.
Kosevich, V.M.
Nikolaichuk, G.P.
2018-06-22T13:22:00Z
2018-06-22T13:22:00Z
2006
Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere / A.G. Bagmut, S.N. Grigorov, V.A. Zhuchkov, V.Yu. Kolosov, V.M. Kosevich, G.P. Nikolaichuk // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 206-213. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140069
Effects of the substrate temperature Tₛ (20-420 ℃) and the oxygen pressure in the evaporation chamber Р(О₂) (10⁻⁵-10⁻² Torr) on the structure and phase composition of films obtained by pulse laser sputtering of a chromium target have been studied by electron microscopy (using the extinction bending contour technique to analyze the crystal lattice bending). At a fixed Tₛ, the oxygen content in amorphous films increases with increasing Р(О₂), while at a fixed Р(О₂), it decreases with elevating Tₛ. The influence of amorphous matrix composition and thickness t on the structure and morphology of crystals growing under annealing of the films by an electron beam has been studied. The bending of spherulite crystal lattice has been found to decrease with increasing over- stoichiometric Cr concentration in amorphous matrix and with increasing distance up to
 the center of an zone-axial pattern of the spherulite. At small film thickness t ≤ t ≈ 2.5 to
 3 nm, the crystallization is hindered due to dimensional and impurity effect of the amorphous state stabilization.
Проведено электронно-микроскопическое исследование (с использованием техники анализа искривления кристаллической решетки методом изгибных экстинкционных
 контуров) влияния температуры подложки Tₛ (20-420 ℃) и давления кислорода в испарительной камере Р(О₂) (10⁻⁵-10⁻² торр) на структуру и фазовый состав пленок, полученных лазерным распылением мишени хрома. При фиксированной TS содержание кислорода в аморфных пленках возрастает с увеличением Р(О₂), а при фиксированном Р(О₂) - уменьшается с ростом Tₛ. Изучено влияние состава и толщины t аморфной матрицы на структуру и морфологию кристаллов, растущих при отжиге пленок электронным лучом. Показано, что искривление кристаллической решетки сферолитов уменьшается с увеличением концентрации в аморфной матрице избыточного сверхстехиометрического хрома и с увеличением расстояния до центра зонно-осевой картины сферолита. При t ≤ t ≈ 2.5-3 нм кристаллизация затруднена вследствие проявления размерно-примесного эффекта стабилизации аморфного состояния.
Проведено електронно-мiкроскопiчне дослiдження (iз використанням технiки аналiзу скривлення кристалiчних граток методом згинних екстинкцiйних контурiв) впливу
 температури пiдкладки Tₛ (20-420 ℃) i тиску кисню у випарнiй камерi Р(О₂) (10⁻⁵-10⁻² торр) на структуру i фазовий склад плiвок, осаджених лазерним розпиленням мiшенi хрому. При фiксованiй Tₛ вмiст кисню в аморфних плiвках зростае зi збiльшенням Р(О₂), а при фiксованому Р(О₂) - зменшується з ростом Tₛ. Вивчено вплив складу i товщини t аморфної матрицi на структуру i морфологiю кристалiв, що ростуть при вiдпалi плiвок електронним променем. Показано, що скривлення кристалiчних граток сферолiтiв зменшуються зi збiльшенням концентрацiї в аморфнiй матрицi надлишкового надстехiометричного хрому i зi збiльшенням вiдстанi до центра зонно-осьової картини сферолiту. При t ≤ t ≈ 2.5 -3 нм кристалiзацiя утруднена внаслiдок прояву розмiрно- домiшкового ефекту стабiлiзацiї аморфного стану.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere
Фазоутворення і кристалізація плівок, осаджених імпульсним лазерним розпиленням хрому в атмосфері кисню
Article
published earlier
spellingShingle Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere
Bagmut, A.G.
Grigorov, S.N.
Zhuchkov, V.A.
Kolosov, V.Yu.
Kosevich, V.M.
Nikolaichuk, G.P.
title Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere
title_alt Фазоутворення і кристалізація плівок, осаджених імпульсним лазерним розпиленням хрому в атмосфері кисню
title_full Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere
title_fullStr Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere
title_full_unstemmed Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere
title_short Phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere
title_sort phase formation and crystallization of films deposited by pulse laser sputtering of chromium in oxygen atmosphere
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140069
work_keys_str_mv AT bagmutag phaseformationandcrystallizationoffilmsdepositedbypulselasersputteringofchromiuminoxygenatmosphere
AT grigorovsn phaseformationandcrystallizationoffilmsdepositedbypulselasersputteringofchromiuminoxygenatmosphere
AT zhuchkovva phaseformationandcrystallizationoffilmsdepositedbypulselasersputteringofchromiuminoxygenatmosphere
AT kolosovvyu phaseformationandcrystallizationoffilmsdepositedbypulselasersputteringofchromiuminoxygenatmosphere
AT kosevichvm phaseformationandcrystallizationoffilmsdepositedbypulselasersputteringofchromiuminoxygenatmosphere
AT nikolaichukgp phaseformationandcrystallizationoffilmsdepositedbypulselasersputteringofchromiuminoxygenatmosphere
AT bagmutag fazoutvorennâíkristalízacíâplívokosadženihímpulʹsnimlazernimrozpilennâmhromuvatmosferíkisnû
AT grigorovsn fazoutvorennâíkristalízacíâplívokosadženihímpulʹsnimlazernimrozpilennâmhromuvatmosferíkisnû
AT zhuchkovva fazoutvorennâíkristalízacíâplívokosadženihímpulʹsnimlazernimrozpilennâmhromuvatmosferíkisnû
AT kolosovvyu fazoutvorennâíkristalízacíâplívokosadženihímpulʹsnimlazernimrozpilennâmhromuvatmosferíkisnû
AT kosevichvm fazoutvorennâíkristalízacíâplívokosadženihímpulʹsnimlazernimrozpilennâmhromuvatmosferíkisnû
AT nikolaichukgp fazoutvorennâíkristalízacíâplívokosadženihímpulʹsnimlazernimrozpilennâmhromuvatmosferíkisnû