Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ
Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов. The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed....
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 1998 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1998
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140696 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |