Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ
Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов. The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed....
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 1998 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1998
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140696 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862747189646721024 |
|---|---|
| author | Ленков, С.В. Фишер, З.А. Зубарев, В.В. |
| author_facet | Ленков, С.В. Фишер, З.А. Зубарев, В.В. |
| citation_txt | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов.
The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed.
|
| first_indexed | 2025-12-07T20:49:54Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-140696 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T20:49:54Z |
| publishDate | 1998 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Ленков, С.В. Фишер, З.А. Зубарев, В.В. 2018-07-14T15:42:44Z 2018-07-14T15:42:44Z 1998 Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140696 Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов. The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Качество и надежность аппаратуры Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ Аналіз та експериментальна апробація моделей відмовлень дефектних виробів електронної техніки The theoretical analysis and the experimental approbation of failures models of fault products of electronic technics Article published earlier |
| spellingShingle | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ Ленков, С.В. Фишер, З.А. Зубарев, В.В. Качество и надежность аппаратуры |
| title | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_alt | Аналіз та експериментальна апробація моделей відмовлень дефектних виробів електронної техніки The theoretical analysis and the experimental approbation of failures models of fault products of electronic technics |
| title_full | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_fullStr | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_full_unstemmed | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_short | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_sort | анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных иэт |
| topic | Качество и надежность аппаратуры |
| topic_facet | Качество и надежность аппаратуры |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140696 |
| work_keys_str_mv | AT lenkovsv analiziéksperimentalʹnaâaprobaciâmodeleiotkazovdefektnyhiét AT fišerza analiziéksperimentalʹnaâaprobaciâmodeleiotkazovdefektnyhiét AT zubarevvv analiziéksperimentalʹnaâaprobaciâmodeleiotkazovdefektnyhiét AT lenkovsv analíztaeksperimentalʹnaaprobacíâmodeleivídmovlenʹdefektnihvirobívelektronnoítehníki AT fišerza analíztaeksperimentalʹnaaprobacíâmodeleivídmovlenʹdefektnihvirobívelektronnoítehníki AT zubarevvv analíztaeksperimentalʹnaaprobacíâmodeleivídmovlenʹdefektnihvirobívelektronnoítehníki AT lenkovsv thetheoreticalanalysisandtheexperimentalapprobationoffailuresmodelsoffaultproductsofelectronictechnics AT fišerza thetheoreticalanalysisandtheexperimentalapprobationoffailuresmodelsoffaultproductsofelectronictechnics AT zubarevvv thetheoreticalanalysisandtheexperimentalapprobationoffailuresmodelsoffaultproductsofelectronictechnics |