Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ

• Published in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Date: 1998
• Main Authors: Ленков, С.В., Фишер, З.А., Зубарев, В.В.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1998
• Subjects: Качество и надежность аппаратуры
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140696
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.

Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов. The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed....