Шероховатость полированных поверхностей оптико-электронных элементов из монокристаллических материалов

В результате исследований закономерностей формирования плоскостей монокристаллов с различной кристаллографической ориентацией установлено, что при полировании сапфира параметры шероховатости Ra, Rq, Rmax уменьшаются в ряду c > r > m > a при уменьшении диэлектрической проницаемости, коэффици...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Сверхтвердые материалы
Date:2016
Main Authors: Филатов, А.Ю., Сидорко, В.И., Ковалев, С.В., Филатов, Ю.Д., Ветров, А.Г.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2016
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/143845
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Шероховатость полированных поверхностей оптико-электронных элементов из монокристаллических материалов / А.Ю. Филатов, В.И. Сидорко, С.В. Ковалев, Ю.Д. Филатов, А.Г. Ветров // Сверхтвердые материалы. — 2016. — № 3. — С. 63-76. — Бібліогр.: 32 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine