Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath

The macroparticle (MP) contamination is the most important technological problem of cathodic vacuum arc
 deposition of coatings. The electrostatic reflection of MP from the substrate is considered as a possible reason for
 the reduction in number of MPs in the presence of reactive ga...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2018
Автори: Romashchenko, E.V., Bizyukov, A.A., Girka, I.О.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2018
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/147354
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath / E.V. Romashchenko, A.A. Bizyukov, I.О. Girka // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 176-180. — Бібліогр.: 27 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862682491052097536
author Romashchenko, E.V.
Bizyukov, A.A.
Girka, I.О.
author_facet Romashchenko, E.V.
Bizyukov, A.A.
Girka, I.О.
citation_txt Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath / E.V. Romashchenko, A.A. Bizyukov, I.О. Girka // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 176-180. — Бібліогр.: 27 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Вопросы атомной науки и техники
description The macroparticle (MP) contamination is the most important technological problem of cathodic vacuum arc
 deposition of coatings. The electrostatic reflection of MP from the substrate is considered as a possible reason for
 the reduction in number of MPs in the presence of reactive gas. It is shown that the probability of the electrostatic
 reflection increases with increasing the nitrogen pressure due to expansion of the region in the sheath where MP
 charge is negative. The MP charge in the collisional plasma sheath is calculated taking into account the dependence
 of the charge state of ions, ion fluxes and ion energies on the background gas pressure. Наиболее важной технологической проблемой вакуумно-дугового осаждения покрытий является загрязнение макрочастицами (МЧ). Одной из возможных причин уменьшения числа частиц при наличии реактивного газа является электростатическое отражение МЧ от подложки. Показано, что вероятность электростатического отражения увеличивается с давлением азота благодаря расширению области в плазменном слое,
 где заряд МЧ отрицателен. Заряд МЧ рассчитан с учетом зависимости зарядового состава ионов, потоков и
 энергий ионов от давления газа. Найбільш важливою технологічною проблемою вакуумно-дугового осадження покриттів є забруднення
 макрочастинками (МЧ). Однією з можливих причин зменшення кількості частинок у присутності реактивного газу є електростатичне відбиття МЧ від підкладки. Показано, що ймовірність електростатичного відбиття зростає з тиском азоту завдяки розширенню ділянки плазмового шару, де заряд МЧ є від’ємним. Заряд
 МЧ розраховано з урахуванням залежності зарядового складу іонів, потоків та енергій іонів від тиску газу.
first_indexed 2025-12-07T15:53:07Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-147354
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1562-6016
language English
last_indexed 2025-12-07T15:53:07Z
publishDate 2018
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
record_format dspace
spelling Romashchenko, E.V.
Bizyukov, A.A.
Girka, I.О.
2019-02-14T14:28:34Z
2019-02-14T14:28:34Z
2018
Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath / E.V. Romashchenko, A.A. Bizyukov, I.О. Girka // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 176-180. — Бібліогр.: 27 назв. — англ.
1562-6016
PACS: 52.40.Hf
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/147354
The macroparticle (MP) contamination is the most important technological problem of cathodic vacuum arc
 deposition of coatings. The electrostatic reflection of MP from the substrate is considered as a possible reason for
 the reduction in number of MPs in the presence of reactive gas. It is shown that the probability of the electrostatic
 reflection increases with increasing the nitrogen pressure due to expansion of the region in the sheath where MP
 charge is negative. The MP charge in the collisional plasma sheath is calculated taking into account the dependence
 of the charge state of ions, ion fluxes and ion energies on the background gas pressure.
Наиболее важной технологической проблемой вакуумно-дугового осаждения покрытий является загрязнение макрочастицами (МЧ). Одной из возможных причин уменьшения числа частиц при наличии реактивного газа является электростатическое отражение МЧ от подложки. Показано, что вероятность электростатического отражения увеличивается с давлением азота благодаря расширению области в плазменном слое,
 где заряд МЧ отрицателен. Заряд МЧ рассчитан с учетом зависимости зарядового состава ионов, потоков и
 энергий ионов от давления газа.
Найбільш важливою технологічною проблемою вакуумно-дугового осадження покриттів є забруднення
 макрочастинками (МЧ). Однією з можливих причин зменшення кількості частинок у присутності реактивного газу є електростатичне відбиття МЧ від підкладки. Показано, що ймовірність електростатичного відбиття зростає з тиском азоту завдяки розширенню ділянки плазмового шару, де заряд МЧ є від’ємним. Заряд
 МЧ розраховано з урахуванням залежності зарядового складу іонів, потоків та енергій іонів від тиску газу.
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия
Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath
Зарядження макрочастинки в шарі катодної дуги
Зарядка макрочастицы в слое катодной дуги
Article
published earlier
spellingShingle Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath
Romashchenko, E.V.
Bizyukov, A.A.
Girka, I.О.
Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия
title Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath
title_alt Зарядження макрочастинки в шарі катодної дуги
Зарядка макрочастицы в слое катодной дуги
title_full Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath
title_fullStr Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath
title_full_unstemmed Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath
title_short Сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath
title_sort сharging of a macroparticle in cathodic arc sheath
topic Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия
topic_facet Плазменно-пучковый разряд, газовый разряд и плазмохимия
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/147354
work_keys_str_mv AT romashchenkoev shargingofamacroparticleincathodicarcsheath
AT bizyukovaa shargingofamacroparticleincathodicarcsheath
AT girkaio shargingofamacroparticleincathodicarcsheath
AT romashchenkoev zarâdžennâmakročastinkivšaríkatodnoídugi
AT bizyukovaa zarâdžennâmakročastinkivšaríkatodnoídugi
AT girkaio zarâdžennâmakročastinkivšaríkatodnoídugi
AT romashchenkoev zarâdkamakročasticyvsloekatodnoidugi
AT bizyukovaa zarâdkamakročasticyvsloekatodnoidugi
AT girkaio zarâdkamakročasticyvsloekatodnoidugi