Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)

Нанокристалічні плівки Ge та SiGe вирощені на поверхні Si(001) методом молекулярно-променевої епітаксії. Оптичні константи тонких плівок визначено методом багатокутової монохроматичної еліпсометрії. Оптичні властивості систем описано в моделі ефективного середовища Бруггемана. Показано, що зміна ефе...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Поверхность
Datum:2016
Hauptverfasser: Козирєв, Ю.М., Лисенко, В.С., Гоменюк, Ю. В., Кондратенко, О.С., Іляш, С.А., Кондратенко, С.В.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України 2016
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/148526
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001) / Ю.М. Козирєв, В.С. Лисенко, Ю. В. Гоменюк, О.С. Кондратенко, С.А. Іляш, С.В. Кондратенко // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 218-222. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine