Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)

Нанокристалічні плівки Ge та SiGe вирощені на поверхні Si(001) методом молекулярно-променевої епітаксії. Оптичні константи тонких плівок визначено методом багатокутової монохроматичної еліпсометрії. Оптичні властивості систем описано в моделі ефективного середовища Бруггемана. Показано, що зміна ефе...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Поверхность
Datum:2016
Hauptverfasser: Козирєв, Ю.М., Лисенко, В.С., Гоменюк, Ю. В., Кондратенко, О.С., Іляш, С.А., Кондратенко, С.В.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України 2016
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/148526
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001) / Ю.М. Козирєв, В.С. Лисенко, Ю. В. Гоменюк, О.С. Кондратенко, С.А. Іляш, С.В. Кондратенко // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 218-222. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-148526
record_format dspace
spelling Козирєв, Ю.М.
Лисенко, В.С.
Гоменюк, Ю. В.
Кондратенко, О.С.
Іляш, С.А.
Кондратенко, С.В.
2019-02-18T14:41:28Z
2019-02-18T14:41:28Z
2016
Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001) / Ю.М. Козирєв, В.С. Лисенко, Ю. В. Гоменюк, О.С. Кондратенко, С.А. Іляш, С.В. Кондратенко // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 218-222. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.
2617-5975
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/148526
535:016
Нанокристалічні плівки Ge та SiGe вирощені на поверхні Si(001) методом молекулярно-променевої епітаксії. Оптичні константи тонких плівок визначено методом багатокутової монохроматичної еліпсометрії. Оптичні властивості систем описано в моделі ефективного середовища Бруггемана. Показано, що зміна ефективних оптичних констант при нанесенні Si на поверхню нанокластерів Ge зумовлена поруватістю нанокристалічних плівок.
The Ge and SiGe nanocrystalline films were grown on Si(001) surface by molecular-beam epitaxy. The optical constants of thin films were determined by multy-angle monochromatic ellipsometry. Optical properties of such systems were described using the Bruggeman's theory of effective medium approximation. Deposition of Si on the surface with Ge nanoclusters changes the effective optical constants due to porosity of the nanocrystalline films.
Нанокристаллические пленки Ge и SiGe выращены на поверхности Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Оптические константы тонких пленок определены методом многоуговой монохроматической эллипсометрии. Оптические свойства систем описаны в модели эффективной среды Бруггемана. Показано, что изменение эффективных оптических констант при нанесении Si на поверхность нанокластеров Ge обусловлено пористостью нанокристаллических пленок.
uk
Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
Поверхность
Наноматериалы и нанотехнологии
Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
Morphology and optical constants of Gе nanocrystalline films deposited on Sі(001)
Морфология и оптические константы нанокристалических пленок Gе на поверхности Sі(001)
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
spellingShingle Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
Козирєв, Ю.М.
Лисенко, В.С.
Гоменюк, Ю. В.
Кондратенко, О.С.
Іляш, С.А.
Кондратенко, С.В.
Наноматериалы и нанотехнологии
title_short Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
title_full Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
title_fullStr Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
title_full_unstemmed Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
title_sort морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок gе на поверхні sі(001)
author Козирєв, Ю.М.
Лисенко, В.С.
Гоменюк, Ю. В.
Кондратенко, О.С.
Іляш, С.А.
Кондратенко, С.В.
author_facet Козирєв, Ю.М.
Лисенко, В.С.
Гоменюк, Ю. В.
Кондратенко, О.С.
Іляш, С.А.
Кондратенко, С.В.
topic Наноматериалы и нанотехнологии
topic_facet Наноматериалы и нанотехнологии
publishDate 2016
language Ukrainian
container_title Поверхность
publisher Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
format Article
title_alt Morphology and optical constants of Gе nanocrystalline films deposited on Sі(001)
Морфология и оптические константы нанокристалических пленок Gе на поверхности Sі(001)
description Нанокристалічні плівки Ge та SiGe вирощені на поверхні Si(001) методом молекулярно-променевої епітаксії. Оптичні константи тонких плівок визначено методом багатокутової монохроматичної еліпсометрії. Оптичні властивості систем описано в моделі ефективного середовища Бруггемана. Показано, що зміна ефективних оптичних констант при нанесенні Si на поверхню нанокластерів Ge зумовлена поруватістю нанокристалічних плівок. The Ge and SiGe nanocrystalline films were grown on Si(001) surface by molecular-beam epitaxy. The optical constants of thin films were determined by multy-angle monochromatic ellipsometry. Optical properties of such systems were described using the Bruggeman's theory of effective medium approximation. Deposition of Si on the surface with Ge nanoclusters changes the effective optical constants due to porosity of the nanocrystalline films. Нанокристаллические пленки Ge и SiGe выращены на поверхности Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Оптические константы тонких пленок определены методом многоуговой монохроматической эллипсометрии. Оптические свойства систем описаны в модели эффективной среды Бруггемана. Показано, что изменение эффективных оптических констант при нанесении Si на поверхность нанокластеров Ge обусловлено пористостью нанокристаллических пленок.
issn 2617-5975
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/148526
citation_txt Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001) / Ю.М. Козирєв, В.С. Лисенко, Ю. В. Гоменюк, О.С. Кондратенко, С.А. Іляш, С.В. Кондратенко // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 218-222. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT kozirêvûm morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT lisenkovs morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT gomenûkûv morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT kondratenkoos morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT ílâšsa morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT kondratenkosv morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT kozirêvûm morphologyandopticalconstantsofgenanocrystallinefilmsdepositedonsí001
AT lisenkovs morphologyandopticalconstantsofgenanocrystallinefilmsdepositedonsí001
AT gomenûkûv morphologyandopticalconstantsofgenanocrystallinefilmsdepositedonsí001
AT kondratenkoos morphologyandopticalconstantsofgenanocrystallinefilmsdepositedonsí001
AT ílâšsa morphologyandopticalconstantsofgenanocrystallinefilmsdepositedonsí001
AT kondratenkosv morphologyandopticalconstantsofgenanocrystallinefilmsdepositedonsí001
AT kozirêvûm morfologiâioptičeskiekonstantynanokristaličeskihplenokgenapoverhnostisí001
AT lisenkovs morfologiâioptičeskiekonstantynanokristaličeskihplenokgenapoverhnostisí001
AT gomenûkûv morfologiâioptičeskiekonstantynanokristaličeskihplenokgenapoverhnostisí001
AT kondratenkoos morfologiâioptičeskiekonstantynanokristaličeskihplenokgenapoverhnostisí001
AT ílâšsa morfologiâioptičeskiekonstantynanokristaličeskihplenokgenapoverhnostisí001
AT kondratenkosv morfologiâioptičeskiekonstantynanokristaličeskihplenokgenapoverhnostisí001
first_indexed 2025-11-28T05:21:05Z
last_indexed 2025-11-28T05:21:05Z
_version_ 1850853403683454976