Рубежанская, М. (2012). Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии. Поверхность.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Рубежанская, М.Ю. "Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии." Поверхность 2012.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Рубежанская, М.Ю. "Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии." Поверхность, 2012.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.