APA (7th ed.) Citation

Рубежанская, М. (2012). Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии. Поверхность.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Рубежанская, М.Ю. "Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии." Поверхность 2012.

MLA (8th ed.) Citation

Рубежанская, М.Ю. "Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии." Поверхность, 2012.

Warning: These citations may not always be 100% accurate.