Рубежанская, М. (2012). Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии. Поверхность.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Рубежанская, М.Ю. "Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии." Поверхность 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Рубежанская, М.Ю. "Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии." Поверхность, 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.