Problems in testing digital protective relay for immunity to intentional destructive electromagnetic impacts. Continuation of the theme

The article is the continuation of the theme highlighted in the previous article with same title. The new article evaluates the results of digital protective relays (DPR) testing for immunity to the E1 component of High-altitude Electromagnetic Pulse (HEMP) and to Intentional Electromagnetic Interf...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Електротехніка і електромеханіка
Datum:2015
1. Verfasser: Gurevich, V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Інститут технічних проблем магнетизму НАН України 2015
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/149394
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Problems in testing digital protective relay for immunity to intentional destructive electromagnetic impacts. Continuation of the theme / V. Gurevich // Електротехніка і електромеханіка. — 2015. — № 6. — С. 66–69. — Бібліогр.: 7 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:The article is the continuation of the theme highlighted in the previous article with same title. The new article evaluates the results of digital protective relays (DPR) testing for immunity to the E1 component of High-altitude Electromagnetic Pulse (HEMP) and to Intentional Electromagnetic Interferences (IEMI) impacts, conducted by some independent American organizations; discusses the features of relay protection devices as well as clarifies and supplements the procedure for testing these devices. Due to methodology errors during the DPR tests conducted by mentioned organizations earlier, they cannot be considered as satisfactory and their results as meaningful. At the moment there are no reliable data on the level of DPR immunity to IDEI, which suggests that the test should be conducted further. Статья является продолжением темы, рассмотренной в предыдущей статье с таким же названием. В новой статье оцениваются результаты испытаний микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) на устойчивость к компоненту E1 электромагнитного импульса высотного ядерного взрыва (ЭМИ ЯВ) и к преднамеренным дистанционным электромагнитным воздействиям (ПДДВ), приводимые некоторыми независимыми американскими организациями; обсуждаются особенности методики их испытаний. Показано, что из-за ошибок в методологии испытаний, результаты, полученные упомянутыми выше организациями нельзя считать достоверными. В настоящее время нет никаких надежных данных об уровне устойчивости МУРЗ к ПДДВ, что указывает на необходимость проведения дополнительных испытаний.
ISSN:2074-272X