Atailia, C., Deboub, L., Boudour, A., & Boumaiza, Y. (2018). Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate. Металлофизика и новейшие технологии.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Atailia, Chafia, Lakhdar Deboub, Amar Boudour, та Youcef Boumaiza. "Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate." Металлофизика и новейшие технологии 2018.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Atailia, Chafia, et al. "Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate." Металлофизика и новейшие технологии, 2018.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.