Зображення обкладинки

Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate

Scanning acoustic microscope (SAM) has proved to be a powerful new technique for investigation and characterization of mechanical properties of materials, especially, the opaque ones. Non-destructive measurements can be carried out using SAM in the vicinity of materials’ surfaces or relatively deepe...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Металлофизика и новейшие технологии
Дата:	2018
Автори:	Chafia Atailia, Lakhdar Deboub, Amar Boudour, Youcef Boumaiza
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2018
Теми:	Физико-технические основы эксперимента и диагностики
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/151871
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate / Chafia Atailia, Lakhdar Deboub, Amar Boudour, Youcef Boumaiza // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 10. — С. 1387-1399. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Acoustical Investigation of Adhesion in Liquid Metal–Ceramic Interfaces
за авторством: Hadef, Zakaria, та інші
Опубліковано: (2018)

Новые подходы в исследовании неоднородности гетерогенных структур
за авторством: Скобло, Т.С., та інші
Опубліковано: (2018)

Эвристическая модель деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции для диагностики монокристаллов с дефектами нескольких типов
за авторством: Молодкин, В.Б., та інші
Опубліковано: (2018)

Regularization of One Conditionally Ill-Posed Problem of Extractive Metallurgy
за авторством: Bolshakov, V.I., та інші
Опубліковано: (2018)

Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах
за авторством: Молодкин, В.Б., та інші
Опубліковано: (2018)

Characterization of Single SAW Velocities of Ti–6Al–4V Alloy as a Function of Porosity by SAM Simulation for Applications
за авторством: Al-Sayad, Y., та інші
Опубліковано: (2018)

Діягностування прихоплень металевих бурильних труб за їхнім напружено-деформованим станом у похило-скерованій свердловині
за авторством: Левчук, К.Г.
Опубліковано: (2018)

Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів
за авторством: Роженко, Н.М., та інші
Опубліковано: (2018)

Термічне розширення поверхні стопу FeNi51
за авторством: Васильєв, М.О., та інші
Опубліковано: (2018)

Studies of topological features of the surface relief formation of titanium nitride films on silicon substrates during the diffusion mass transfer and on annealing using scanning tunneling microscopy
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2013)

Определение числа фотоэлектронов
за авторством: Зацеркляный, А.Е., та інші
Опубліковано: (1999)

Меллеровский поляриметр электронов для TJNAF (зал А)
за авторством: Гламаздин, А.В., та інші
Опубліковано: (1999)

Поляризованная дейтронная мишень
за авторством: Беляев, А.А., та інші
Опубліковано: (1999)

Источник гамма излучения для научных и технологических целей на основе обратного комптоновского рассеяния
за авторством: Буляк, Е.В., та інші
Опубліковано: (1999)

Газовые мишени ГМ-1 и ГМ-2 для экспериментов по рассеянию электронов
за авторством: Буки, А.Ю.
Опубліковано: (1999)

Spatial resolution of scanning tunneling microscopy
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)

New materials for luminescent scanning near-field microscopy
за авторством: Chornii, V., та інші
Опубліковано: (2013)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: H. M. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

In situ scanning electron microscopy study of fatigue crack propagation
за авторством: Jacobsson, L., та інші
Опубліковано: (2008)

Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии
за авторством: Хвостов, С.С., та інші
Опубліковано: (2003)

Новый метод получения точечных контактов
за авторством: Фисун, В.В., та інші
Опубліковано: (2008)

Измерение плотности газов и жидкостей под давлением с помощью магнитной левитации эталонного образца
за авторством: Панфилов, А.С., та інші
Опубліковано: (2002)

Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
за авторством: Ростами, Х.Р.
Опубліковано: (2001)

Высокотемпературные ВЧ сквиды для pаботы в магнитных полях. Влияние тепловых флуктуаций
за авторством: Шнырков, В.И., та інші
Опубліковано: (1999)

Scanning near-field optical microscopy of magnetic structures in magnetic films
за авторством: Belotelov, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011)

Indium induced nanostructures on In₄Se₃(100) surface studied by scanning tunneling microscopy
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2013)

Комби-криостат для рентгеновского дифрактометра
за авторством: Бондарь, И.С., та інші
Опубліковано: (2017)

Применение маятникового магнитометра для измерения магнитной восприимчивости твердых тел под давлением: соединение V₄S₉Br₄
за авторством: Пaнфилов, А.С.
Опубліковано: (2015)

The exact solution of self-consistent equations in the scanning near-field optic microscopy problem
за авторством: Lozovski, V., та інші
Опубліковано: (1999)

Scanning electron microscopy in the study of the structures of eutectic alloys of iron and chromium with refractory borides
за авторством: Ye. Panarin
Опубліковано: (2019)

The possibility to determine a constant of spin-orbit interaction by scanning tunneling microscopy method
за авторством: N. V. Khotkevich, та інші
Опубліковано: (2016)

Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by scanning probe microscopy methods
за авторством: O. I. Synhaivska, та інші
Опубліковано: (2016)

Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments
за авторством: Gorbach, T.Ya., та інші
Опубліковано: (1998)

Scanning Electron Microscopy Provides a Novel Method to Map Abdominal Musculature in Archaeognatha (Insecta)
за авторством: Matushkina, N.
Опубліковано: (2025)

New directions in point-contact spectroscopy based on scanning tunneling microscopy techniques (Review Article)
за авторством: Tartaglini, E., та інші
Опубліковано: (2013)

Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe₁–xTex
за авторством: Ekino, T., та інші
Опубліковано: (2013)

Wet-mode scanning electron microscopy as an instrument for studies of biogeochemical processes of fungal biominerals formation
за авторством: M. A. Fomina, та інші
Опубліковано: (2015)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)