Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
The authors investigate deformation-induced changes in the electrophysical parameters of the indium antimonide microcrystals at cryogenic temperatures in strong magnetic fields up to 10 T.
Saved in:
| Date: | 2019 |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2019
|
| Series: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167872 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications / A.O. Druzhinin, Yu.M. Khoverko, I.P. Ostrovskii, N.S. Liakh-Kaguy, O.A. Pasynkova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 3-4. — С. 3-9. — Бібліогр.: 31 назв. — англ. |