Высокояркостная система экстракции геликонного источника ионов

Проведены исследования процессов формирования пучка ионов при применении в геликонном источнике экстрактора с изолированной апертурой экстракции, которая находится под плавающим потенциалом плазмы. За счет изменения конфигурации электрических и магнитных полей в области экстракции возникают условия,...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2010
Main Authors: Шульга, Д.П., Мордик, С.Н., Мирошниченко, В.И.
Format: Article
Language:Russian
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2010
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17367
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Высокояркостная система экстракции геликонного источника ионов / Д.П. Шульга, С.Н. Мордик, В.И. Мирошниченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 4. — С. 369-372. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Проведены исследования процессов формирования пучка ионов при применении в геликонном источнике экстрактора с изолированной апертурой экстракции, которая находится под плавающим потенциалом плазмы. За счет изменения конфигурации электрических и магнитных полей в области экстракции возникают условия, которые позволяют увеличить приосевую яркость до уровня 300 А/м²•рад²•эВ. Проведено дослідження процесів формування пучка іонів при застосуванні в геліконному джерелі екстрактора з ізольованою апертурою екстракції, яка перебуває під плаваючим потенціалом плазми. За рахунок зміни конфігурації електричних і магнітних полів в області екстракції виникають умови, які дозволяють збільшити приосьову яскравість до рівня 300 А/м²•рад²•еВ. Ion beam forming processes were studied when extractor with isolated aperture being under the floating plasma potential was used in the helicon source. Conditions allowing paraxial brightness to be increased up to 300 A/m²rad²eV appear due to changes in electric and magnetic field configurations in the extraction area.
ISSN:1562-6016