Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1
Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и м...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Реєстрація, зберігання і обробка даних |
|---|---|
| Дата: | 2007 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
2007
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/50872 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862638878614093824 |
|---|---|
| author | Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. |
| author_facet | Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. |
| citation_txt | Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Реєстрація, зберігання і обробка даних |
| description | Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и методы их устранения или учета при анализе результатов.
Розглянуто аналітичні методи, що використовуються для вирішення задач оптичного тонкоплівкового та наноструктурного матеріалознавства. Розглянуто приклади застосування найбільш розповсюджених й інформативних методів аналізу. Для методів, що найбільш часто використовуються, наведено основні артефакти аналізу та методи їхнього усунення або врахування при аналізі результатів.
The analytical methods used for solving tasks of optical thin-film and nanostructure materials science are considered. Examples of application of the most widespread and informative methods of the analysis are given. For the most frequently used methods the basic artifacts of the analysis and methods of their elimination or the account at the analysis of results are presented.
|
| first_indexed | 2025-12-01T00:51:15Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-50872 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1560-9189 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-01T00:51:15Z |
| publishDate | 2007 |
| publisher | Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. 2013-11-05T23:21:45Z 2013-11-05T23:21:45Z 2007 Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос. 1560-9189 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/50872 004.85 Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и методы их устранения или учета при анализе результатов. Розглянуто аналітичні методи, що використовуються для вирішення задач оптичного тонкоплівкового та наноструктурного матеріалознавства. Розглянуто приклади застосування найбільш розповсюджених й інформативних методів аналізу. Для методів, що найбільш часто використовуються, наведено основні артефакти аналізу та методи їхнього усунення або врахування при аналізі результатів. The analytical methods used for solving tasks of optical thin-film and nanostructure materials science are considered. Examples of application of the most widespread and informative methods of the analysis are given. For the most frequently used methods the basic artifacts of the analysis and methods of their elimination or the account at the analysis of results are presented. ru Інститут проблем реєстрації інформації НАН України Реєстрація, зберігання і обробка даних Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 Аналітичні методи дослідження тонкоплівкових і наноструктурних матеріалів, що використовуються для оптичного запису. Частина 1 Analytical Methods of Investigating Thin-Film and Nanostructure Materials Used for Information Recording. Part 1 Article published earlier |
| spellingShingle | Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних |
| title | Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| title_alt | Аналітичні методи дослідження тонкоплівкових і наноструктурних матеріалів, що використовуються для оптичного запису. Частина 1 Analytical Methods of Investigating Thin-Film and Nanostructure Materials Used for Information Recording. Part 1 |
| title_full | Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| title_fullStr | Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| title_full_unstemmed | Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| title_short | Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| title_sort | аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. часть 1 |
| topic | Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних |
| topic_facet | Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/50872 |
| work_keys_str_mv | AT kosskoia analitičeskiemetodyissledovaniitonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskoizapisičastʹ1 AT kuročkinvd analitičeskiemetodyissledovaniitonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskoizapisičastʹ1 AT kravecvg analitičeskiemetodyissledovaniitonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskoizapisičastʹ1 AT krûčinaa analitičeskiemetodyissledovaniitonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskoizapisičastʹ1 AT kosskoia analítičnímetodidoslídžennâtonkoplívkovihínanostrukturnihmateríalívŝovikoristovuûtʹsâdlâoptičnogozapisučastina1 AT kuročkinvd analítičnímetodidoslídžennâtonkoplívkovihínanostrukturnihmateríalívŝovikoristovuûtʹsâdlâoptičnogozapisučastina1 AT kravecvg analítičnímetodidoslídžennâtonkoplívkovihínanostrukturnihmateríalívŝovikoristovuûtʹsâdlâoptičnogozapisučastina1 AT krûčinaa analítičnímetodidoslídžennâtonkoplívkovihínanostrukturnihmateríalívŝovikoristovuûtʹsâdlâoptičnogozapisučastina1 AT kosskoia analyticalmethodsofinvestigatingthinfilmandnanostructurematerialsusedforinformationrecordingpart1 AT kuročkinvd analyticalmethodsofinvestigatingthinfilmandnanostructurematerialsusedforinformationrecordingpart1 AT kravecvg analyticalmethodsofinvestigatingthinfilmandnanostructurematerialsusedforinformationrecordingpart1 AT krûčinaa analyticalmethodsofinvestigatingthinfilmandnanostructurematerialsusedforinformationrecordingpart1 |