Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1
Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и м...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Реєстрація, зберігання і обробка даних |
|---|---|
| Datum: | 2007 |
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
2007
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/50872 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-50872 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. 2013-11-05T23:21:45Z 2013-11-05T23:21:45Z 2007 Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос. 1560-9189 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/50872 004.85 Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и методы их устранения или учета при анализе результатов. Розглянуто аналітичні методи, що використовуються для вирішення задач оптичного тонкоплівкового та наноструктурного матеріалознавства. Розглянуто приклади застосування найбільш розповсюджених й інформативних методів аналізу. Для методів, що найбільш часто використовуються, наведено основні артефакти аналізу та методи їхнього усунення або врахування при аналізі результатів. The analytical methods used for solving tasks of optical thin-film and nanostructure materials science are considered. Examples of application of the most widespread and informative methods of the analysis are given. For the most frequently used methods the basic artifacts of the analysis and methods of their elimination or the account at the analysis of results are presented. ru Інститут проблем реєстрації інформації НАН України Реєстрація, зберігання і обробка даних Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 Аналітичні методи дослідження тонкоплівкових і наноструктурних матеріалів, що використовуються для оптичного запису. Частина 1 Analytical Methods of Investigating Thin-Film and Nanostructure Materials Used for Information Recording. Part 1 Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| spellingShingle |
Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних |
| title_short |
Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| title_full |
Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| title_fullStr |
Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| title_full_unstemmed |
Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 |
| title_sort |
аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. часть 1 |
| author |
Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. |
| author_facet |
Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. |
| topic |
Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних |
| topic_facet |
Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних |
| publishDate |
2007 |
| language |
Russian |
| container_title |
Реєстрація, зберігання і обробка даних |
| publisher |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Аналітичні методи дослідження тонкоплівкових і наноструктурних матеріалів, що використовуються для оптичного запису. Частина 1 Analytical Methods of Investigating Thin-Film and Nanostructure Materials Used for Information Recording. Part 1 |
| description |
Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и методы их устранения или учета при анализе результатов.
Розглянуто аналітичні методи, що використовуються для вирішення задач оптичного тонкоплівкового та наноструктурного матеріалознавства. Розглянуто приклади застосування найбільш розповсюджених й інформативних методів аналізу. Для методів, що найбільш часто використовуються, наведено основні артефакти аналізу та методи їхнього усунення або врахування при аналізі результатів.
The analytical methods used for solving tasks of optical thin-film and nanostructure materials science are considered. Examples of application of the most widespread and informative methods of the analysis are given. For the most frequently used methods the basic artifacts of the analysis and methods of their elimination or the account at the analysis of results are presented.
|
| issn |
1560-9189 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/50872 |
| citation_txt |
Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос. |
| work_keys_str_mv |
AT kosskoia analitičeskiemetodyissledovaniitonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskoizapisičastʹ1 AT kuročkinvd analitičeskiemetodyissledovaniitonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskoizapisičastʹ1 AT kravecvg analitičeskiemetodyissledovaniitonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskoizapisičastʹ1 AT krûčinaa analitičeskiemetodyissledovaniitonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskoizapisičastʹ1 AT kosskoia analítičnímetodidoslídžennâtonkoplívkovihínanostrukturnihmateríalívŝovikoristovuûtʹsâdlâoptičnogozapisučastina1 AT kuročkinvd analítičnímetodidoslídžennâtonkoplívkovihínanostrukturnihmateríalívŝovikoristovuûtʹsâdlâoptičnogozapisučastina1 AT kravecvg analítičnímetodidoslídžennâtonkoplívkovihínanostrukturnihmateríalívŝovikoristovuûtʹsâdlâoptičnogozapisučastina1 AT krûčinaa analítičnímetodidoslídžennâtonkoplívkovihínanostrukturnihmateríalívŝovikoristovuûtʹsâdlâoptičnogozapisučastina1 AT kosskoia analyticalmethodsofinvestigatingthinfilmandnanostructurematerialsusedforinformationrecordingpart1 AT kuročkinvd analyticalmethodsofinvestigatingthinfilmandnanostructurematerialsusedforinformationrecordingpart1 AT kravecvg analyticalmethodsofinvestigatingthinfilmandnanostructurematerialsusedforinformationrecordingpart1 AT krûčinaa analyticalmethodsofinvestigatingthinfilmandnanostructurematerialsusedforinformationrecordingpart1 |
| first_indexed |
2025-12-01T00:51:15Z |
| last_indexed |
2025-12-01T00:51:15Z |
| _version_ |
1850858877488201728 |