Модуляционная поляриметрия полного внутреннего отражения, нарушенного алмазоподобными пленками

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2013
• Hauptverfasser: Максименко, Л.С., Мищук, О.Н., Матяш, И.Е., Сердега, Б.К., Костин, Е.Г., Полозов, Б.П., Федорович, О.А., Савинков, Г.К.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2013
• Schlagworte: Функциональная микро- и наноэлектроника
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51734
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Модуляционная поляриметрия полного внутреннего отражения, нарушенного алмазоподобными пленками / Л.С. Максименко, О.Н. Мищу, И.Е. Матяш, Б.К. Сердега, Е.Г. Костин, Б.П. Полозов, О.А. Федорович, Г.К. Савинков // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2013. — № 1. — С. 3-8. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Исследованы алмазоподобные пленки, специально приготовленные при различных технологических условиях. Введен параметр ρ, называемый поляризационной разностью. Из спектральных характеристик параметра ρ обнаружено, что взаимодействие электромагнитного излучения с электронной системой образцов, которое...