Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени

• Veröffentlicht in: Штучний інтелект
• Datum: 2010
• Hauptverfasser: Кутаев, Ю.Ф., Тимченко, Л.И., Губернаторов, В.А., Кокряцкая, Н.И.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2010
• Schlagworte: Алгоритмическое и программное обеспечение параллельных вычислительных интеллектуальных систем
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/56161
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, В.А. Губернаторов, Н.И. Кокряцкая // Штучний інтелект. — 2010. — № 3. — С. 81-87. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений. У статті розглядається проблема контролю форми поверхні плями випромінювання у реаль...