Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени

• Veröffentlicht in: Штучний інтелект
• Datum: 2010
• Hauptverfasser: Кутаев, Ю.Ф., Тимченко, Л.И., Губернаторов, В.А., Кокряцкая, Н.И.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2010
• Schlagworte: Алгоритмическое и программное обеспечение параллельных вычислительных интеллектуальных систем
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/56161
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, В.А. Губернаторов, Н.И. Кокряцкая // Штучний інтелект. — 2010. — № 3. — С. 81-87. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений. У статті розглядається проблема контролю форми поверхні плями випромінювання у реальному часі. Пропонується використання методу перетинів для формування вибірки і подальшої обробки подальших зображень. In the article the problem of control of form of surface of spot of radiation is examined in real time. The use of method of sections is offered for forming of selection and subsequent processing of further images.