Метрология интеллектуальных систем
В статье рассмотрены системные принципы метрологического обеспечения проектирования систем с элементами искусственного интеллекта. Структурно-стохастический принцип аппроксимации информации пространственно-временных полей обеспечивает преодоление существенной априорной неопределенности и высокие...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
2008
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6816 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Метрология интеллектуальных систем / С.С. Анцыферов // Штучний інтелект. — 2008. — № 3. — С. 18-27. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |