Метрология интеллектуальных систем

• Date: 2008
• Main Author: Анцыферов, С.С.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2008
• Subjects: Концептуальные проблемы искусственного интеллекта
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6816
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Метрология интеллектуальных систем / С.С. Анцыферов // Штучний інтелект. — 2008. — № 3. — С. 18-27. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

В статье рассмотрены системные принципы метрологического обеспечения проектирования систем с элементами искусственного интеллекта. Структурно-стохастический принцип аппроксимации информации пространственно-временных полей обеспечивает преодоление существенной априорной неопределенности и высокие метрологические показатели по скорости адаптации, достоверности и устойчивости результатов. У статті розглянуті системні принципи метрологічного забезпечення проектування систем з елементами штучного інтелекту. Структурно-стохастичний принцип апроксимації інформації просторово-часових полів забезпечує подолання істотної апріорної невизначеності і високі метрологічні показники швидкості адаптації, достовірності і стійкості результатів. The system principles of metrological assurance of intellectual systems designing, i.e. the systems with elements of an artificial intelligence are considered. The structurally-stochastic principle of approximation ensures overcoming of essential a priori indeterminacy and assures high metrology parameters on a velocity of adaptation, reliability of results.