Метрология интеллектуальных систем

• Datum: 2008
• 1. Verfasser: Анцыферов, С.С.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2008
• Schlagworte: Концептуальные проблемы искусственного интеллекта
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6816
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Метрология интеллектуальных систем / С.С. Анцыферов // Штучний інтелект. — 2008. — № 3. — С. 18-27. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

В статье рассмотрены системные принципы метрологического обеспечения проектирования
 систем с элементами искусственного интеллекта. Структурно-стохастический принцип аппроксимации
 информации пространственно-временных полей обеспечивает преодоление существенной априорной
 неопределенности и высокие метрологические показатели по скорости адаптации, достоверности и
 устойчивости результатов. У статті розглянуті системні принципи метрологічного забезпечення проектування систем з елементами
 штучного інтелекту. Структурно-стохастичний принцип апроксимації інформації просторово-часових полів
 забезпечує подолання істотної апріорної невизначеності і високі метрологічні показники швидкості адаптації,
 достовірності і стійкості результатів. The system principles of metrological assurance of intellectual systems designing, i.e. the systems with
 elements of an artificial intelligence are considered. The structurally-stochastic principle of approximation
 ensures overcoming of essential a priori indeterminacy and assures high metrology parameters on a velocity
 of adaptation, reliability of results.