Метрология интеллектуальных систем
В статье рассмотрены системные принципы метрологического обеспечения проектирования
 систем с элементами искусственного интеллекта. Структурно-стохастический принцип аппроксимации
 информации пространственно-временных полей обеспечивает преодоление существенной априорной
 нео...
Збережено в:
| Дата: | 2008 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
2008
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6816 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Метрология интеллектуальных систем / С.С. Анцыферов // Штучний інтелект. — 2008. — № 3. — С. 18-27. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862683904713949184 |
|---|---|
| author | Анцыферов, С.С. |
| author_facet | Анцыферов, С.С. |
| citation_txt | Метрология интеллектуальных систем / С.С. Анцыферов // Штучний інтелект. — 2008. — № 3. — С. 18-27. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| description | В статье рассмотрены системные принципы метрологического обеспечения проектирования
систем с элементами искусственного интеллекта. Структурно-стохастический принцип аппроксимации
информации пространственно-временных полей обеспечивает преодоление существенной априорной
неопределенности и высокие метрологические показатели по скорости адаптации, достоверности и
устойчивости результатов.
У статті розглянуті системні принципи метрологічного забезпечення проектування систем з елементами
штучного інтелекту. Структурно-стохастичний принцип апроксимації інформації просторово-часових полів
забезпечує подолання істотної апріорної невизначеності і високі метрологічні показники швидкості адаптації,
достовірності і стійкості результатів.
The system principles of metrological assurance of intellectual systems designing, i.e. the systems with
elements of an artificial intelligence are considered. The structurally-stochastic principle of approximation
ensures overcoming of essential a priori indeterminacy and assures high metrology parameters on a velocity
of adaptation, reliability of results.
|
| first_indexed | 2025-12-07T15:57:12Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-6816 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1561-5359 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T15:57:12Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Анцыферов, С.С. 2010-03-18T12:26:09Z 2010-03-18T12:26:09Z 2008 Метрология интеллектуальных систем / С.С. Анцыферов // Штучний інтелект. — 2008. — № 3. — С. 18-27. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 1561-5359 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6816 681.518.5; 621.384.3 В статье рассмотрены системные принципы метрологического обеспечения проектирования
 систем с элементами искусственного интеллекта. Структурно-стохастический принцип аппроксимации
 информации пространственно-временных полей обеспечивает преодоление существенной априорной
 неопределенности и высокие метрологические показатели по скорости адаптации, достоверности и
 устойчивости результатов. У статті розглянуті системні принципи метрологічного забезпечення проектування систем з елементами
 штучного інтелекту. Структурно-стохастичний принцип апроксимації інформації просторово-часових полів
 забезпечує подолання істотної апріорної невизначеності і високі метрологічні показники швидкості адаптації,
 достовірності і стійкості результатів. The system principles of metrological assurance of intellectual systems designing, i.e. the systems with
 elements of an artificial intelligence are considered. The structurally-stochastic principle of approximation
 ensures overcoming of essential a priori indeterminacy and assures high metrology parameters on a velocity
 of adaptation, reliability of results. ru Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України Концептуальные проблемы искусственного интеллекта Метрология интеллектуальных систем Метрологія інтелектуальних систем Metrology of Intellectual Systems Article published earlier |
| spellingShingle | Метрология интеллектуальных систем Анцыферов, С.С. Концептуальные проблемы искусственного интеллекта |
| title | Метрология интеллектуальных систем |
| title_alt | Метрологія інтелектуальних систем Metrology of Intellectual Systems |
| title_full | Метрология интеллектуальных систем |
| title_fullStr | Метрология интеллектуальных систем |
| title_full_unstemmed | Метрология интеллектуальных систем |
| title_short | Метрология интеллектуальных систем |
| title_sort | метрология интеллектуальных систем |
| topic | Концептуальные проблемы искусственного интеллекта |
| topic_facet | Концептуальные проблемы искусственного интеллекта |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6816 |
| work_keys_str_mv | AT ancyferovss metrologiâintellektualʹnyhsistem AT ancyferovss metrologíâíntelektualʹnihsistem AT ancyferovss metrologyofintellectualsystems |