Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"

Решено уравнение Пуассона для контакта "металл—узкозонный полупроводник HgMnTe" и исследованы особенности распределения потенциала, напряженности электрического поля и плотности заряда. Показано, что при сужении запрещенной зоны становится существенным влияние свободных носителей. Результа...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2002
Main Authors: Косяченко, Л.А., Марков, А.В., Остапов, С.Э., Раренко, И.М.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2002
Series:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70766
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe" / Л.А. Косяченко, А.В. Марков, С.Э. Остапов, И.М. Раренко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 3-5. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70766
record_format dspace
fulltext
spelling nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-707662025-02-23T18:43:44Z Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe" Investigations of metal-semiconductor contact on the base of HgMnTe Косяченко, Л.А. Марков, А.В. Остапов, С.Э. Раренко, И.М. Материалы для микроэлектроники Решено уравнение Пуассона для контакта "металл—узкозонный полупроводник HgMnTe" и исследованы особенности распределения потенциала, напряженности электрического поля и плотности заряда. Показано, что при сужении запрещенной зоны становится существенным влияние свободных носителей. Результаты могут быть использованы для расчетов параметров детекторов инфракрасного излучения в диапазонах 3—5 и 8—14 мкм. The Poisson equation for Schottky barrier has been solved by numerical methods, and the peculiarities of distribution of space charge, field strength and potential have been considered. It has been shown that with the band-gap narrowing the influence of free carriers on distribution of space charge is essential that leads to departure of the relation-ship of potential from the quadratic law and field strength from linear one. The results can be used for analysis of the characteristics of IR detectors for the 3-5 and 8-14 mm spectral regions. 2002 Article Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe" / Л.А. Косяченко, А.В. Марков, С.Э. Остапов, И.М. Раренко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 3-5. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70766 546.711.49 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре application/pdf Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Материалы для микроэлектроники
Материалы для микроэлектроники
spellingShingle Материалы для микроэлектроники
Материалы для микроэлектроники
Косяченко, Л.А.
Марков, А.В.
Остапов, С.Э.
Раренко, И.М.
Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Решено уравнение Пуассона для контакта "металл—узкозонный полупроводник HgMnTe" и исследованы особенности распределения потенциала, напряженности электрического поля и плотности заряда. Показано, что при сужении запрещенной зоны становится существенным влияние свободных носителей. Результаты могут быть использованы для расчетов параметров детекторов инфракрасного излучения в диапазонах 3—5 и 8—14 мкм.
format Article
author Косяченко, Л.А.
Марков, А.В.
Остапов, С.Э.
Раренко, И.М.
author_facet Косяченко, Л.А.
Марков, А.В.
Остапов, С.Э.
Раренко, И.М.
author_sort Косяченко, Л.А.
title Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"
title_short Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"
title_full Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"
title_fullStr Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"
title_full_unstemmed Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"
title_sort исследование контакта "металл—полупроводник на основе нgmnte"
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 2002
topic_facet Материалы для микроэлектроники
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70766
citation_txt Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe" / Л.А. Косяченко, А.В. Марков, С.Э. Остапов, И.М. Раренко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 3-5. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
series Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv AT kosâčenkola issledovaniekontaktametallpoluprovodniknaosnovengmnte
AT markovav issledovaniekontaktametallpoluprovodniknaosnovengmnte
AT ostapovsé issledovaniekontaktametallpoluprovodniknaosnovengmnte
AT rarenkoim issledovaniekontaktametallpoluprovodniknaosnovengmnte
AT kosâčenkola investigationsofmetalsemiconductorcontactonthebaseofhgmnte
AT markovav investigationsofmetalsemiconductorcontactonthebaseofhgmnte
AT ostapovsé investigationsofmetalsemiconductorcontactonthebaseofhgmnte
AT rarenkoim investigationsofmetalsemiconductorcontactonthebaseofhgmnte
first_indexed 2025-11-24T11:41:39Z
last_indexed 2025-11-24T11:41:39Z
_version_ 1849671810458583040