Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения

Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2001
Hauptverfasser: Белоус, А.И., Емельянов, В.А., Ефименко, С.А., Прибыльский, А.В.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2001
Schriftenreihe:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70874
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-70874
record_format dspace
fulltext
spelling nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-708742025-02-23T18:39:57Z Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. Технология производства Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа. 2001 Article Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70874 621.382 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре application/pdf Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Технология производства
Технология производства
spellingShingle Технология производства
Технология производства
Белоус, А.И.
Емельянов, В.А.
Ефименко, С.А.
Прибыльский, А.В.
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа.
format Article
author Белоус, А.И.
Емельянов, В.А.
Ефименко, С.А.
Прибыльский, А.В.
author_facet Белоус, А.И.
Емельянов, В.А.
Ефименко, С.А.
Прибыльский, А.В.
author_sort Белоус, А.И.
title Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
title_short Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
title_full Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
title_fullStr Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
title_full_unstemmed Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
title_sort повышение достоверности отбраковки бис методом понижения питающего напряжения
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 2001
topic_facet Технология производства
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/70874
citation_txt Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
series Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv AT belousai povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ
AT emelʹânovva povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ
AT efimenkosa povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ
AT pribylʹskijav povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ
first_indexed 2025-11-24T11:41:39Z
last_indexed 2025-11-24T11:41:39Z
_version_ 1849671810606432256