Оптические характеристики световозвращающих элементов
Проанализированы оптические характеристики световозвращающих элементов при различных условиях освещения их рабочих поверхностей. Исследовано влияние процесса металлизации поверхности с микрорельефом на коэффициент световозвращения для симметричных и асимметричных световозвращающих элементов. Предлож...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Реєстрація, зберігання і обробка даних |
|---|---|
| Дата: | 2008 |
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
2008
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7563 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Оптические характеристики световозвращающих элементов / Е.Е. Антонов, С.М. Шанойло, А.В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2008. — Т. 10, № 2. — С. 13-22. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1859675528394440704 |
|---|---|
| author | Антонов, Е.Е. Шанойло, С.М. Шиховец, А.В. Минг Чжан Кай Лю |
| author_facet | Антонов, Е.Е. Шанойло, С.М. Шиховец, А.В. Минг Чжан Кай Лю |
| citation_txt | Оптические характеристики световозвращающих элементов / Е.Е. Антонов, С.М. Шанойло, А.В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2008. — Т. 10, № 2. — С. 13-22. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Реєстрація, зберігання і обробка даних |
| description | Проанализированы оптические характеристики световозвращающих элементов при различных условиях освещения их рабочих поверхностей. Исследовано влияние процесса металлизации поверхности с микрорельефом на коэффициент световозвращения для симметричных и асимметричных световозвращающих элементов. Предложены методы контроля качества оптических поверхностей.
Проведено аналіз оптичних характеристик світлоповертальних елементів при різних кутах освітлення робочих поверхонь. Запропоновано методику діагностики якості оптичних поверхонь на основі аналізу дифракційної картини, що виникає при проходженні лазерного випромінювання через мікрорельєф. Досліджено вплив процесу металізації поверхонь з мікрорельєфом на коефіцієнт світлоповертання для симетричних та асиметричних світлоповертальних елементів.
An analysis of optical characteristics of retroreflective elements for different angles of illumination of their surfaces is carried out. Diagnostics method for optical surfaces quality by diffraction phenomena with laser beam is proposed. The influence of microrelief surface metallization process on retroreflection coefficient for symmetric and asymmetric retroreflective elements is investigated.
|
| first_indexed | 2025-11-30T15:55:14Z |
| format | Article |
| fulltext |
ISSN 1560-9189 Реєстрація, зберігання і обробка даних, 2008, Т. 10, № 2 13
УДК 535.241.5
Е. Е. Антонов1, С. М. Шанойло1, А. В. Шиховец1,
Минг Чжан2, Кай Лю2
1Институт проблем регистрации информации НАН Украины
ул. Н. Шпака, 2, 03113 Киев, Украина
2Чжецзянский технологический университет
Ханчжоу, Китайская народная республика
Оптические характеристики
световозвращающих элементов
Проведен анализ оптических характеристик световозвращающих
элементов при различных условиях освещения их рабочих поверхно-
стей. Исследовано влияние процесса металлизации поверхности с
микрорельефом на коэффициент световозвращения для симметрич-
ных и асимметричных световозвращающих элементов. Предложены
методы контроля качества оптических поверхностей.
Ключевые слова: световозвращающий элемент, угол освещения, ко-
эффициент отражения, металлизация поверхности, дифракционные
явления.
Оптические характеристики микропризменных световозвращающих устрой-
ств, прежде всего, коэффициент световозвращения R, и коэффициент пропускания
τ, зависят от многих параметров, однако основным является высокое качество ра-
бочих поверхностей. Только в этом случае наиболее эффективно реализуется
принцип полного внутреннего отражения [1], и потери падающего на поверхность
потока света 0 на рассеяние на границе раздела сред минимальны. Для контроля
качества поверхностей элементов удобно использовать метод диагностики на ос-
нове анализа дифракционной картины, которая возникает при прохождении луча
лазера через прозрачную микропризменную структуру. Предложенный метод
можно реализовать на этапе тиражирования прозрачных копий штампа-матрицы
до момента герметизации оптических рабочих поверхностей образцов.
Рассмотрим микрорельеф симметричного световозвращающего элемента, ко-
торый имеет вид трех серий углублений с шагом W треугольного профиля с углом
между гранями ζ = 70º31'44", симметрично расположенных под углом 60º друг
относительно друга.
© Е. Е. Антонов, С. М. Шанойло, А. В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю
Е. Е. Антонов, С. М. Шанойло, А. В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю
14
Сечение микрорельефа для такого единичного элемента в каждом из трех на-
правлений резания на матрице-оригинале имеет вид прямоугольных треугольни-
ков АВС (рис. 1) с образующим углом α = 35º15'52" и обратным углом β =
= 54º44'08". При освещении со стороны рельефа прозрачной копии, изготовлен-
ной с помощью штампа-матрицы, дифракционная картина формируется симмет-
рично в каждом из трех направлений микрорельефа в виде двух полос, располо-
женных перпендикулярно направлению резания, т.е. всего наблюдается шесть ин-
терференционных картин. Такой способ освещения поверхности световозвраща-
теля при диагностике предпочтительнее варианта отражения светового потока от
готового изделия, когда все три отражения от граней уголкового отражателя фор-
мируют одну общую интерференционную картину. Первый вариант позволяет
раздельно анализировать качество поверхности каждой грани для всех трех на-
правлений микрорельефа отражателя.
Рис. 1. Схема возникновения дифракционной картины при прохождении луча
лазера через симметричный микропризменный элемент
Луч лазера, который падает на микрорельеф по нормали к образующей по-
верхности, проходит внутрь элемента для каждого из трех направлений рельефа в
двух зонах треугольной формы СВF (рис. 1) и после двойного преломления на
границе раздела сред разделяется на две группы интерферирующих пучков в виде
системы темных и светлых полос, повернутых на угол γ относительно начального
направления. Характерный размер системы полос АЕ равен шагу микрорельефа
W, а ширина светлой полосы BD, которую в дальнейшем будем называть эффек-
тивной апертурой решетки S0, равна:
ВD = W/2(tg + tgδ)/((1 + tg)2). (1)
Понятно, что в зависимости от угла наблюдения φ, который будем отсчиты-
вать от направления распространения преломленного пучка γ, для каждого из рас-
сматриваемых лучей возникает дополнительная разность хода, т.е. на экране в
плоскости АВ1 будет наблюдаться интерференционная картина. Типичная интер-
ференционная картина для одной из шести рабочих граней единичного элемента
Оптические характеристики световозвращающих элементов
ISSN 1560-9189 Реєстрація, зберігання і обробка даних, 2008, Т. 10, № 2 15
симметричного световозвращателя ИПРИ НАН Украины (ИПРИ) приведена на
рис. 2.
Рис. 2. Интерференционная картина для одной из граней симметричного световозвращательного
элемента ИПРИ: W = 600 мкм, длина волны лазера λ = 632,8 нм
Предлагаемая методика диагностики базируется на сопоставлении реально
наблюдаемой интерференционной картины с полученной теоретически, что дает
возможность делать определенные выводы относительно качества поверхностей
микропризм.
Примеры микрорельефа световозвращающих элементов ИПРИ приведены на
рис. 3, где рис. 3а иллюстрирует рабочую матрицу симметричного световозвра-
щающего элемента, изготовленную методом гальванопластики с матрицы-
оригинала, полученной методом, так называемого, алмазного резания [2] с шагом
нарезки W = 150 мкм, а рис. 3б относится к асимметричному элементу с шагом
широкой канавки W = 360 мкм и шагом узкой канавки L = 270 мкм. При указан-
ных параметрах угол оптимизации φ0 [3] для этого асимметричного элемента со-
ставляет 65 градусов.
а б
Рис. 3. Примеры микрорельефа световозвращающих элементов ИПРИ:
а) матрица симметричного элемента (шаг нарезки W = 150 мкм);
б) матрица асимметричного элемента (W = 360 мкм, L = 270 мкм)
Для практического рассмотрения явлений дифракции при прохождении пучка
света через микрорельеф можно использовать упрощенную модель, когда свето-
вая волна считается плоской, реальные световые пучки треугольной формы заме-
Е. Е. Антонов, С. М. Шанойло, А. В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю
16
няются прямоугольными, а разность хода лучей определяется чисто из геометри-
ческих соображений. Как и раньше будем считать, что поглощение потока в мате-
риале световозвращателя несущественно. Будем также считать, что разность хода
интерферируемых лучей Δ = (ВВ1 – CD) может быть учтена простым поворотом
системы координат на угол γ, который легко определить из закона инвариантно-
сти излучения Снеллиуса 4. В случае нахождения микропризмы в воздухе (пока-
затель преломления n1 = 1,0) для симметричного катафота, изготовленного из по-
ликарбоната (n2 = 1,585), этот угол γ = 39º37'45".
В новой системе координат направление распространения пучка света вдоль
луча γ будет соответствовать углу наблюдения φ = 0. Тогда с учетом сделанных
упрощений для описания интерференционных явлений можно использовать из-
вестные формулы для плоской дифракционной решетки [4]:
I = I0 (sin A sin NB)(A sin B)–1, (2)
где А = (π S / λ) sinφ; B = (π D / λ) sinφ; I0 — амплитуда светового потока от одной
щели дифракционного решетки в направлении φ = 0; λ — длина волны рассмат-
риваемого излучения; D — период решетки; S — ширина одной щели; N — число
щелей в решетке. Первый множитель А описывает дифракцию от одной щели, а
другая составляющая В отвечает за интерференционные явления от N идентичных
щелей.
В направлении γ (рис. 1) эффективный период решетки D1 = Wcosγ, а эффек-
тивная апертура призмы S1, которая является аналогом величины S в формуле (2),
равна:
S1 = S0 cosγ = W/2 (tg + tgδ)/(1 + tg2) cosγ. (3)
При использовании для диагностики гелий-неонового лазера с длиной волны
λ = 632,8 нм, множители А и В в формуле (2) имеют такой вид:
А = (π W/2 (tg + tgδ)/(1 + tg2) cosγ / (0,6328) sinφ),
B = (π W cosγ / 0,6328) sinφ. (4)
Величина N в нашем случае имеет смысл размера площадки микрорельефа,
которая освещается лучом лазера, и ее величина зависит от диаметра Dл луча ла-
зера, используемого для диагностики. Как правило, диаметр Dл составлял 3,5 мм,
поэтому в расчетах величина N варьировалась в диапазоне 2–8 в зависимости от
шага рельефа W.
Полученные расчетные интерференционные картины, которые возникают на
экране после прохождения луча лазера через микропризменный рельеф, для неко-
торых значений W приведены на рис. 4. Для удобства все углы дифракции пере-
считаны непосредственно в расстояния в миллиметрах от положения «нулевого»
максимума для случая, когда расстояние до экрана составляет 1,0 м. Интенсивно-
сти на всех графиках приведены в относительных единицах.
Оптические характеристики световозвращающих элементов
ISSN 1560-9189 Реєстрація, зберігання і обробка даних, 2008, Т. 10, № 2 17
0
20
40
60
80
100
-20 -10 0 10 20 30 40 50 60 70 80
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
0 2 4 6 8 10
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
0 6 12 18 24 30 36
а) б)
Рис. 4. Дифракционные эффекты для симметричного световозвращающего элемента: a) шаг нарез-
ки W = 600 мкм, число щелей N = 4: 1 — дифракционная картина от одной щели; 2 — интерферен-
ция для N щелей; 3 — интегральная картина; б) интегральная интерференционная картина
для случая N = 8: 1 — шаг нарезки W = 600 мкм; 2 — W = 150 мкм; 3 — W = 50 мкм
Главной особенностью полученных расчетных данных является то, что в слу-
чае дифракции света на симметричном световозвращающем элементе в инте-
гральной интерференционной картине практически присутствует лишь несколько
первых основных максимумов, поскольку для такого микрорельефа D1 ≈ 3,7 S1.
Экспериментальные данные по реальному распределению интенсивности на
экране были получены в параллельном пучке излучения лазера (дифракция Фра-
унгофера), расстояния от центрального максимума соответствовали размещению
экрана на расстоянии 1,0 м от исследуемого микропризменного рельефа, ширина
сканирующей щели составляла 140 мкм. Полученная типичная дифракционная
картина распределения интенсивности на экране приведена на рис. 5–7 для неко-
торых граней микрорельефа симметричного световозвращателя с шагом W, рав-
ным 150 и 600 мкм.
Рис. 5. Экспериментальные данные для симметричного световозвращающего
элемента. Шаг микрорельефа W = 600 мкм, грань № 1
Е. Е. Антонов, С. М. Шанойло, А. В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю
18
0
20
40
60
80
100
-20 -10 0 10 20 30 40
0
20
40
60
80
100
-20 -10 0 10 20 30 40
0
20
40
60
80
100
-10 -8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8 10
0
20
40
60
80
100
0 2 4 6 8 10
а) б)
Рис. 6. Экспериментальные данные для симметричного световозвращающего элемента.
Шаг нарезки W = 150 мкм: а) грань № 1; б) грань № 2
а) б)
Рис. 7. Экспериментальные данные для симметричного световозвращающего элемента.
Шаг нарезки W = 600 мкм: а) грани № 1 + № 2; б) грань № 2
Из рис. 6 видно, что для элемента с шагом нарезки W = 150 мкм картина для
одной грани выбранного направления микрорельефа (рис. 6а) существенно отли-
чается от картины для другой грани (рис. 6б) и совершенно не соответствует рас-
четным характеристикам (рис. 4б). Наблюдается также множество, так называе-
мых, духов Роуланда [4], что свидетельствует о неидеальности оптических по-
верхностей микропризм с шагом W = 150 мкм.
В то же время, для микрорельефа с шагом нарезки W = 600 мкм практически
совпадают экспериментальные точки для двух граней одного направления релье-
фа (рис. 7а). Наблюдается также совпадение теории (рис. 4а, кривая 3) и экспери-
мента (рис. 7б) для одной грани этого микрорельефа, что говорит о хорошем ка-
честве рассматриваемых световозвращателей.
Оптические характеристики световозвращающих элементов
ISSN 1560-9189 Реєстрація, зберігання і обробка даних, 2008, Т. 10, № 2 19
Таким образом, сравнение экспериментально полученного распределения ин-
тенсивности лазерного луча после его прохождения через микрорельеф с расчет-
ными данными дает возможность оценить качество рабочих поверхностей.
Конечно, какие-либо интерференционные эффекты можно исследовать толь-
ко с помощью источника когерентного монохроматического излучения, напри-
мер, лазера в одномодовом режиме, который является достаточно доступным и
эффективным инструментом диагностики.
Другим важным фактором повышения коэффициента световозвращения R
является оптимизация геометрических характеристик микрорельефа. Ранее [3]
были детально исследованы асимметричные световозвращающие элементы с це-
лью оптимизации геометрических параметров микрорельефа при создании на об-
разующей поверхности групп уголковых отражателей. Оптимизированные таким
образом микропризменные структуры обладают максимальной эффективной ра-
бочей зоной S* для выбранного угла освещения 0 . Будем в дальнейшем называть
величину 0 углом наклона плоскости элемента в вертикальном направлении, а
случай освещения элемента вдоль прямоугольной канавки будет соответствовать
нулевому углу β наклона световозвращающего элемента в горизонтальном на-
правлении.
Световозвращение в первом случае обеспечивается за счет принципа полного
внутреннего отражения, поскольку углы 0 падения потока света на внутреннюю
поверхность микрорельефа при повороте элемента в вертикальном направлении
всегда оказываются меньше предельного.
Однако уже небольшие отклонения угла β от оптимального по горизонтали
приводят к превышению предельного значения угла, что снижает коэффициент
световозвращения R асимметричного световозвращателя. Этот случай всегда реа-
лизуется, например, при освещении фарами автомобиля катафота с асимметрич-
ными световозвращающими элементами, установленного на полотне дороги, при
приближении автомобиля к катафоту.
Простым решением этой проблемы может быть напыление слоя металла на
поверхность микрорельефа. В этом случае происходит отражение потока излуче-
ния 0 от внутренней поверхности зеркального металлического слоя. Соответст-
вующий коэффициент отражения k( 0 ) может быть рассчитан по формулам, ана-
логичным формулам Френеля [4], но с учетом поглощения пучка света в поверх-
ностном слое металла h путем введения комплексного показателя преломления
n' = n (1 – iχ), при этом мнимая часть показателя (nχ) определяет процесс погло-
щения световой волны слоем металла:
h = 0 exp(–kh) = 0 exp(–4π/λ) χh). (5)
Для пучков света, поляризованных в плоскости падения (↕), и в плоскости,
перпендикулярной плоскости падения (↔), коэффициенты отражения пучков оп-
ределяются [4] соответственно:
k( 0 )(↕) = (n – cos 0 )2 + χ2) / (n + cos 0 )2 + χ2), (6)
Е. Е. Антонов, С. М. Шанойло, А. В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю
20
k( 0 )(↔) = (n – 1/cos 0 )2 + χ2) / (n + 1/cos 0 )2 + χ2). (7)
В случае нормального падения лучей ( 0 = 0) суммарный коэффициент от-
ражения:
k( 0 = 0) = [(n – 1)2 + χ2] / [(n + 1)2 + χ2]. (8)
В выражениях (5)–(8) λ — длина волны падающего на поверхность металла
пучка света, см; h — толщина поглощающего слоя, см; k — коэффициент погло-
щения металла, 1/см; безразмерный коэффициент χ = kλ /4π; n — показатель пре-
ломления металла.
Отметим, что толщина напыляемого слоя должна быть небольшой. Действи-
тельно, лишь очень тонкие слои металла (порядка длины волны падающего света)
участвуют в процессе формирования вторичной отраженной волны, которая вы-
звана колебаниями свободных электронов в поверхностном слое металла при от-
ражении световой волны. Более глубокие слои металла участвует лишь в процессе
поглощения света согласно (5). Минимальное значение толщины слоя h определя-
ется требованием непрозрачности слоя металла при визуальном наблюдении. В
видимом диапазоне это соответствует толщинам h = 0,1–0,2 мкм. Максимальное
же значение h определяется лишь экономическими соображениями. Понятно, что
слой металла должен быть достаточно толстым, чтобы обеспечить необходимую
гидроизоляцию и механическую стойкость покрытий. При разработке дорожных
катафотов с металлизированными световозвращающими элементами, по-видимо-
му, оптимальными являются слои металла толщиною 0,2–0,4 мкм.
В наших экспериментах использовалось напыление слоя серебра. На рис. 8
приведена зависимость коэффициента световозвращения R асимметричного све-
товозвращающего элемента ИПРИ от угла β поворота его поверхности в горизон-
тальной плоскости при трех фиксированных значениях угла 0 наклона поверх-
ности в вертикальном направлении для металлизированных и не металлизирован-
ных поверхностей.
Видно, что металлизация поверхности с микрорельефом приводит к сущест-
венному расширению углового распределения световозвращения. Так, например,
для угла 0 = 45º без металлизации микрорельефа при увеличении угла β до 30
коэффициент R снижается более чем в 10 раз (кривая 1, пунктир), в то время, как
металлизированная поверхность обнаруживает снижение световозвращения всего
на 40 % (сплошная линия). Чем больше начальный наклон 0 образующей по-
верхности в вертикальной плоскости, тем заметнее эффект металлизации при по-
вороте по горизонтали. Это объясняется тем, что при большей величине 0 пре-
вышение значения предельного угла наступает быстрее, т.е. при меньших углах β
(кривые 1 и 3 на рис. 2).
Для симметричных световозвращающих элементов исследование эффекта
металлизации рельефа дает аналогичные результаты. Максимальный коэффици-
ент активной апертуры ka для таких симметричных световозвращателей составля-
ет около 0,67, и эффективность световозвращения максимальна, когда пучок света
Оптические характеристики световозвращающих элементов
ISSN 1560-9189 Реєстрація, зберігання і обробка даних, 2008, Т. 10, № 2 21
0
100
200
300
400
-60 -40 -20 0 20 40 60
0
100
200
300
400
500
600
-80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80
падает на рабочие грани микрокубов под оптимальным углом 35º15'52'' между
каждой из граней и нормалью к образующей поверхности. Это направление назы-
вается осью симметричного световозвращающего элемента.
Рис. 8. Зависимость коэффициента R (кд/лк м2) для асимметричного световозвращающего
элемента ИПРИ от угла освещения β (градусы) в случае металлизации поверхности серебром
(сплошные линии) и без металлизации микрорельефа (пунктир): 1 — угол наклона поверхности
в вертикальном направлении 0 = 45; 2 — угол 0 = 60; 3 — угол 0 = 30
При освещении симметричного элемента, в направлении, отличающемся от
указанной оси, эффективность световозвращения снижается. Одна из типичных
подобных зависимостей приведена на рис. 9 (кривая 1). Эффект объясняется тем,
что помимо уменьшения коэффициента активной апертуры элемента ka уменьша-
ются также величины углов освещения микрорельефа, которые в конце концов
становятся меньше значения предельного угла. Так, для рассмотренной выше сис-
темы «поликарбонат–воздух» уже при углах освещения симметричного световоз-
вращающего элемента 0 > 4 световой поток вместо полного внутреннего отра-
жения начинает проходить внутрь элемента, а при углах 0 = 10–15º такие потери
светового потока 0 становятся весьма значительными.
Рис. 9. Зависимость коэффициента световозвращения R (кд/лк м2) для симметричного
световозвращающего элемента ИПРИ от угла 0 (градусы): 1 — без металлизации поверхности
с микрорельефом; 2 — поверхность металлизирована серебром
Е. Е. Антонов, С. М. Шанойло, А. В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю
22
Металлизация рабочих поверхностей приводит к заметному увеличению ко-
эффициента световозвращения при углах освещения 0 > 30–35 (см. рис. 9, кри-
вая 2). Это связано с тем, что для металлизированной поверхности при любых уг-
лах освещения световой поток не проходит внутрь металла, а отражается от гра-
ницы раздела сред «поликарбонат–серебро». Рассматриваемый эффект наблюда-
ется при наклоне симметричного элемента относительно его оси в любом из на-
правлений, поскольку рельеф в таких элементах за счет усреднения по всем инди-
видуальным микротетраэдрам структуры симметричен относительно нормали к
образующей поверхности. Например, для углов освещения 0 > 40 коэффициент
световозвращения R увеличивается почти в 10 раз. Это позволяет рекомендовать
применение предварительной металлизации рабочих поверхностей с микрорелье-
фом перед герметизацией световозвращательных элементов с целью получения
максимального светоотражения при больших углах освещения.
Авторы выражают благодарность к.т.н. И.А. Косско за предоставленные фо-
тографии микрорельефа световозвращающих элементов, которые были получены
с помощью электронного микроскопа «JEOL».
Выводы
Исследованы оптические характеристики микропризменных световозвра-
щающих элементов при изменении углов освещения его пучком света в горизон-
тальной и вертикальной плоскостях.
Предложена методика диагностики качества поверхностей световозвращате-
лей, основанная на анализе дифракционной картины, возникающей при прохож-
дении луча лазера через периодическую микропризменную структуру.
Установлено, что металлизация поверхности с микрорельефом для всех типов
световозвращающих элементов приводит к существенному расширению угловой
зависимости характеристики световозвращения. Это позволяет рекомендовать
применение предварительной металлизации рабочих поверхностей перед герме-
тизацией элементов при разработке дорожных катафотов и световозвращателей
различного назначения с максимальным светоотражением при больших углах ос-
вещения.
1. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. — М.: Наука, 1973. — 720 с.
2. Патент 74034 України, G02B5/124, В32В3/00. Спосіб виготовлення призмоподібних світ-
лоповертальних елементів / В.В.Петров, С.М.Шанойло, О.І.Гранат, Л.В.Бутенко, А.А.Крючин,
В.М.Зенін, В.Д.Ковтун, О.К.Войтенко, В.О.Заболотний, П.В.Майстренко, А.В.Ковальчук (Украї-
на); ІПРІ НАН України. — № 2003076449; заявл. 10.07.2003; опубл. 17.10.2005. — 2 с.
3.. Петров В.В., Шанойло С.М., Крючин А.А., Антонов Е.Е., Кравец В.Г. Моделирование
свойств асимметричных световозвращающих элементов // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. —
2007. — Т. 9, № 2. — С. 17–25.
4. Ландсберг Г.С. Оптика. — М.: Наука, 1976. — 928 с.
Поступила в редакцию 27.05.2008
|
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-7563 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1560-9189 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-30T15:55:14Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Антонов, Е.Е. Шанойло, С.М. Шиховец, А.В. Минг Чжан Кай Лю 2010-04-02T12:23:16Z 2010-04-02T12:23:16Z 2008 Оптические характеристики световозвращающих элементов / Е.Е. Антонов, С.М. Шанойло, А.В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2008. — Т. 10, № 2. — С. 13-22. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 1560-9189 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7563 535.241.5 Проанализированы оптические характеристики световозвращающих элементов при различных условиях освещения их рабочих поверхностей. Исследовано влияние процесса металлизации поверхности с микрорельефом на коэффициент световозвращения для симметричных и асимметричных световозвращающих элементов. Предложены методы контроля качества оптических поверхностей. Проведено аналіз оптичних характеристик світлоповертальних елементів при різних кутах освітлення робочих поверхонь. Запропоновано методику діагностики якості оптичних поверхонь на основі аналізу дифракційної картини, що виникає при проходженні лазерного випромінювання через мікрорельєф. Досліджено вплив процесу металізації поверхонь з мікрорельєфом на коефіцієнт світлоповертання для симетричних та асиметричних світлоповертальних елементів. An analysis of optical characteristics of retroreflective elements for different angles of illumination of their surfaces is carried out. Diagnostics method for optical surfaces quality by diffraction phenomena with laser beam is proposed. The influence of microrelief surface metallization process on retroreflection coefficient for symmetric and asymmetric retroreflective elements is investigated. ru Інститут проблем реєстрації інформації НАН України Реєстрація, зберігання і обробка даних Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних Оптические характеристики световозвращающих элементов Оптичні характеристики світлоповертальних елементів Optical Characteristics of Retroreflective Elements Article published earlier |
| spellingShingle | Оптические характеристики световозвращающих элементов Антонов, Е.Е. Шанойло, С.М. Шиховец, А.В. Минг Чжан Кай Лю Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних |
| title | Оптические характеристики световозвращающих элементов |
| title_alt | Оптичні характеристики світлоповертальних елементів Optical Characteristics of Retroreflective Elements |
| title_full | Оптические характеристики световозвращающих элементов |
| title_fullStr | Оптические характеристики световозвращающих элементов |
| title_full_unstemmed | Оптические характеристики световозвращающих элементов |
| title_short | Оптические характеристики световозвращающих элементов |
| title_sort | оптические характеристики световозвращающих элементов |
| topic | Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних |
| topic_facet | Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7563 |
| work_keys_str_mv | AT antonovee optičeskieharakteristikisvetovozvraŝaûŝihélementov AT šanoilosm optičeskieharakteristikisvetovozvraŝaûŝihélementov AT šihovecav optičeskieharakteristikisvetovozvraŝaûŝihélementov AT mingčžan optičeskieharakteristikisvetovozvraŝaûŝihélementov AT kailû optičeskieharakteristikisvetovozvraŝaûŝihélementov AT antonovee optičníharakteristikisvítlopovertalʹnihelementív AT šanoilosm optičníharakteristikisvítlopovertalʹnihelementív AT šihovecav optičníharakteristikisvítlopovertalʹnihelementív AT mingčžan optičníharakteristikisvítlopovertalʹnihelementív AT kailû optičníharakteristikisvítlopovertalʹnihelementív AT antonovee opticalcharacteristicsofretroreflectiveelements AT šanoilosm opticalcharacteristicsofretroreflectiveelements AT šihovecav opticalcharacteristicsofretroreflectiveelements AT mingčžan opticalcharacteristicsofretroreflectiveelements AT kailû opticalcharacteristicsofretroreflectiveelements |