Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺

Представлено результати досліджень приповерхневих шарів плівок ЗІҐ, імплантованих іонами Si⁺ дозою 5⋅10¹³ см⁻² в діапазоні енергій 100 – 150 кеВ. Математичне моделювання процесу іонноі імплантації показало, що утворення пар Френкеля та дефектів більш складного типу є рівноймовірним. Теоретично розра...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физическая инженерия поверхности
Datum:2011
Hauptverfasser: Остафійчук, Б.К., Гарпуль, О.З., Пилипів, В.М., Яремій, І.П., Куровець, В.В.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2011
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76408
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺ / Б.К. Остафійчук, О.З. Гарпуль, В.М. Пилипів, І.П. Яремій, В.В. Куровець // Физическая инженерия поверхности. — 2011. — Т. 9, № 2. — С. 150–156. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-76408
record_format dspace
spelling Остафійчук, Б.К.
Гарпуль, О.З.
Пилипів, В.М.
Яремій, І.П.
Куровець, В.В.
2015-02-10T11:57:04Z
2015-02-10T11:57:04Z
2011
Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺ / Б.К. Остафійчук, О.З. Гарпуль, В.М. Пилипів, І.П. Яремій, В.В. Куровець // Физическая инженерия поверхности. — 2011. — Т. 9, № 2. — С. 150–156. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76408
544.546:548.4
Представлено результати досліджень приповерхневих шарів плівок ЗІҐ, імплантованих іонами Si⁺ дозою 5⋅10¹³ см⁻² в діапазоні енергій 100 – 150 кеВ. Математичне моделювання процесу іонноі імплантації показало, що утворення пар Френкеля та дефектів більш складного типу є рівноймовірним. Теоретично розраховано профіль концентрації радіаційних дефектів, який в основному формується дефектами, утвореними внаслідок пружних взаємодій іона-імплантата з атомами мішені. Експериментально встановлено, що імплантація іонів Si⁺ у плівки ЗІҐ призводить до утворення в приповерхневому шарі монотонно-спадних профілів відносної деформації.
Представлены результаты исследований приповерхностных слоев пленок ЗИГ, имплантированных ионами Si⁺ дозой 5⋅10¹³ см⁻² в диапазоне энергий 100 – 150 кэВ. Математическое моделирование процесса ионной имплантации показало, что образование пар Френкеля и дефектов более сложного типа является равновероятным. Теоретически рассчитано профиль концентрации радиационных дефектов, который в основном формируется дефектами, образовавшимися в результате упругих взаимодействий иона-имплантата с атомами мишени. Экспериментально установлено, что имплантация ионов Si⁺ в пленки ЗИГ приводит к образованию в приповерхностном слое монотонно-нисходящих профилей относительной деформации.
The results of studies of near-surface layers of YIG films, ion implanted Si⁺, dose of 5⋅10¹³ cm⁻² in the energy range 100 – 150 keV. Mathematical modeling of ion implantation showed that the formation of Frenkel pairs of defects and more complex types are equally likely. The concentration profile of radiation defects, which mainly formed defects formed as a result of elastic ion-implant interactions with atoms of the target was calculated. Experimentally determined that the implantation of Si⁺ ions in YIG films leads to the formation in the subsurface layer monotonically-decreasing relative strain profiles.
Робота виконана за підтримки CRDF/ USAID (UKX 2-9200-IF-08) та МОН України (М/130-2009).
uk
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Физическая инженерия поверхности
Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺
spellingShingle Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺
Остафійчук, Б.К.
Гарпуль, О.З.
Пилипів, В.М.
Яремій, І.П.
Куровець, В.В.
title_short Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺
title_full Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺
title_fullStr Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺
title_full_unstemmed Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺
title_sort формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів si⁺
author Остафійчук, Б.К.
Гарпуль, О.З.
Пилипів, В.М.
Яремій, І.П.
Куровець, В.В.
author_facet Остафійчук, Б.К.
Гарпуль, О.З.
Пилипів, В.М.
Яремій, І.П.
Куровець, В.В.
publishDate 2011
language Ukrainian
container_title Физическая инженерия поверхности
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
format Article
description Представлено результати досліджень приповерхневих шарів плівок ЗІҐ, імплантованих іонами Si⁺ дозою 5⋅10¹³ см⁻² в діапазоні енергій 100 – 150 кеВ. Математичне моделювання процесу іонноі імплантації показало, що утворення пар Френкеля та дефектів більш складного типу є рівноймовірним. Теоретично розраховано профіль концентрації радіаційних дефектів, який в основному формується дефектами, утвореними внаслідок пружних взаємодій іона-імплантата з атомами мішені. Експериментально встановлено, що імплантація іонів Si⁺ у плівки ЗІҐ призводить до утворення в приповерхневому шарі монотонно-спадних профілів відносної деформації. Представлены результаты исследований приповерхностных слоев пленок ЗИГ, имплантированных ионами Si⁺ дозой 5⋅10¹³ см⁻² в диапазоне энергий 100 – 150 кэВ. Математическое моделирование процесса ионной имплантации показало, что образование пар Френкеля и дефектов более сложного типа является равновероятным. Теоретически рассчитано профиль концентрации радиационных дефектов, который в основном формируется дефектами, образовавшимися в результате упругих взаимодействий иона-имплантата с атомами мишени. Экспериментально установлено, что имплантация ионов Si⁺ в пленки ЗИГ приводит к образованию в приповерхностном слое монотонно-нисходящих профилей относительной деформации. The results of studies of near-surface layers of YIG films, ion implanted Si⁺, dose of 5⋅10¹³ cm⁻² in the energy range 100 – 150 keV. Mathematical modeling of ion implantation showed that the formation of Frenkel pairs of defects and more complex types are equally likely. The concentration profile of radiation defects, which mainly formed defects formed as a result of elastic ion-implant interactions with atoms of the target was calculated. Experimentally determined that the implantation of Si⁺ ions in YIG films leads to the formation in the subsurface layer monotonically-decreasing relative strain profiles.
issn 1999-8074
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76408
citation_txt Формування структурної неоднорідності приповерхневого шару плівок залізо-ітрієвого ґранату шляхом імплантації іонів Si⁺ / Б.К. Остафійчук, О.З. Гарпуль, В.М. Пилипів, І.П. Яремій, В.В. Куровець // Физическая инженерия поверхности. — 2011. — Т. 9, № 2. — С. 150–156. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT ostafíičukbk formuvannâstrukturnoíneodnorídnostípripoverhnevogošaruplívokzalízoítríêvogogranatušlâhomímplantacíííonívsi
AT garpulʹoz formuvannâstrukturnoíneodnorídnostípripoverhnevogošaruplívokzalízoítríêvogogranatušlâhomímplantacíííonívsi
AT pilipívvm formuvannâstrukturnoíneodnorídnostípripoverhnevogošaruplívokzalízoítríêvogogranatušlâhomímplantacíííonívsi
AT âremíiíp formuvannâstrukturnoíneodnorídnostípripoverhnevogošaruplívokzalízoítríêvogogranatušlâhomímplantacíííonívsi
AT kurovecʹvv formuvannâstrukturnoíneodnorídnostípripoverhnevogošaruplívokzalízoítríêvogogranatušlâhomímplantacíííonívsi
first_indexed 2025-11-30T22:58:37Z
last_indexed 2025-11-30T22:58:37Z
_version_ 1850858645330329600