Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок

• Опубліковано в: : Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
• Дата: 2009
• Автори: Гомза, Ю.П., Клепко, В.В., Несін, С.Д., Лисенков, Е.А., Куницький, Ю.А., Барабаш, М.Ю., Хоменко, Л.Г.
• Формат: Стаття
• Мова: Ukrainian
• Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2009
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76411
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.

З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особли...