Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особли...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| Hauptverfasser: | , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2009
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76411 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані
експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної
природи.
Technique for investigation of short-range ordering in ultrathin epitaxial
films is realized using standard x-ray DRON-2.0 diffractometer in the geometry
of parallel gliding beams under conditions of total external reflection.
Peculiarities of short-range ordering in polymer and inorganic films of
200—500 nm in thickness on various substrates are studied.
С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована
методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала
сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения.
Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200—500 нм на
подложках различной природы.
|
|---|---|
| ISSN: | 1816-5230 |