Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані
 експерименти з вивченн...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| Hauptverfasser: | , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2009
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76411 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости
 надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков,
 Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862741867713527808 |
|---|---|
| author | Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. |
| author_facet | Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. |
| citation_txt | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости
 надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков,
 Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| description | З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані
експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної
природи.
Technique for investigation of short-range ordering in ultrathin epitaxial
films is realized using standard x-ray DRON-2.0 diffractometer in the geometry
of parallel gliding beams under conditions of total external reflection.
Peculiarities of short-range ordering in polymer and inorganic films of
200—500 nm in thickness on various substrates are studied.
С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована
методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала
сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения.
Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200—500 нм на
подложках различной природы.
|
| first_indexed | 2025-12-07T20:22:09Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-76411 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1816-5230 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-12-07T20:22:09Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. 2015-02-10T12:13:45Z 2015-02-10T12:13:45Z 2009 Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости
 надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков,
 Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. 1816-5230 PACS numbers: 07.85.Jy,61.05.cp,61.41.Vx,68.47.Pe,68.55.am,68.55.J-,81.70.Pg https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76411 З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані
 експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної
 природи. Technique for investigation of short-range ordering in ultrathin epitaxial
 films is realized using standard x-ray DRON-2.0 diffractometer in the geometry
 of parallel gliding beams under conditions of total external reflection.
 Peculiarities of short-range ordering in polymer and inorganic films of
 200—500 nm in thickness on various substrates are studied. С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована
 методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала
 сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения.
 Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200—500 нм на
 подложках различной природы. uk Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок X-Ray Examinations of Short-Range Ordering of Ultra-thin Films Article published earlier |
| spellingShingle | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. |
| title | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_alt | X-Ray Examinations of Short-Range Ordering of Ultra-thin Films |
| title_full | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_fullStr | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_full_unstemmed | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_short | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_sort | рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76411 |
| work_keys_str_mv | AT gomzaûp rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT klepkovv rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT nesínsd rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT lisenkovea rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT kunicʹkiiûa rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT barabašmû rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT homenkolg rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT gomzaûp xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms AT klepkovv xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms AT nesínsd xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms AT lisenkovea xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms AT kunicʹkiiûa xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms AT barabašmû xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms AT homenkolg xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms |