Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок

Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок

З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особли...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Datum:2009
Hauptverfasser: Гомза, Ю.П., Клепко, В.В., Несін, С.Д., Лисенков, Е.А., Куницький, Ю.А., Барабаш, М.Ю., Хоменко, Л.Г.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2009
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76411
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-76411
record_format dspace
spelling Гомза, Ю.П.
Клепко, В.В.
Несін, С.Д.
Лисенков, Е.А.
Куницький, Ю.А.
Барабаш, М.Ю.
Хоменко, Л.Г.
2015-02-10T12:13:45Z
2015-02-10T12:13:45Z
2009
Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.
1816-5230
PACS numbers: 07.85.Jy,61.05.cp,61.41.Vx,68.47.Pe,68.55.am,68.55.J-,81.70.Pg
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76411
З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної природи.
Technique for investigation of short-range ordering in ultrathin epitaxial films is realized using standard x-ray DRON-2.0 diffractometer in the geometry of parallel gliding beams under conditions of total external reflection. Peculiarities of short-range ordering in polymer and inorganic films of 200—500 nm in thickness on various substrates are studied.
С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения. Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200—500 нм на подложках различной природы.
uk
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
X-Ray Examinations of Short-Range Ordering of Ultra-thin Films
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
spellingShingle Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
Гомза, Ю.П.
Клепко, В.В.
Несін, С.Д.
Лисенков, Е.А.
Куницький, Ю.А.
Барабаш, М.Ю.
Хоменко, Л.Г.
title_short Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
title_full Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
title_fullStr Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
title_full_unstemmed Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
title_sort рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
author Гомза, Ю.П.
Клепко, В.В.
Несін, С.Д.
Лисенков, Е.А.
Куницький, Ю.А.
Барабаш, М.Ю.
Хоменко, Л.Г.
author_facet Гомза, Ю.П.
Клепко, В.В.
Несін, С.Д.
Лисенков, Е.А.
Куницький, Ю.А.
Барабаш, М.Ю.
Хоменко, Л.Г.
publishDate 2009
language Ukrainian
container_title Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
publisher Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
format Article
title_alt X-Ray Examinations of Short-Range Ordering of Ultra-thin Films
description З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної природи. Technique for investigation of short-range ordering in ultrathin epitaxial films is realized using standard x-ray DRON-2.0 diffractometer in the geometry of parallel gliding beams under conditions of total external reflection. Peculiarities of short-range ordering in polymer and inorganic films of 200—500 nm in thickness on various substrates are studied. С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения. Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200—500 нм на подложках различной природы.
issn 1816-5230
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76411
citation_txt Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT gomzaûp rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok
AT klepkovv rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok
AT nesínsd rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok
AT lisenkovea rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok
AT kunicʹkiiûa rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok
AT barabašmû rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok
AT homenkolg rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok
AT gomzaûp xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms
AT klepkovv xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms
AT nesínsd xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms
AT lisenkovea xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms
AT kunicʹkiiûa xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms
AT barabašmû xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms
AT homenkolg xrayexaminationsofshortrangeorderingofultrathinfilms
first_indexed 2025-12-07T20:22:09Z
last_indexed 2025-12-07T20:22:09Z
_version_ 1850882318542045184

Ähnliche Einträge